PA‑300‑L日本photonic lattice 大视野双折射测量仪
日本photonic lattice 大视野双折射测量仪
本设备为大视野规格的双折射测量仪器,面向中型尺寸透明样品开发,依托光子晶体偏振阵列技术完成全域面扫描检测,摒弃传统旋转偏振片结构,规避机械运动带来的扰动影响,保障检测过程稳定可靠。整机单次成像就可以拿到整个视场范围内全部位置的光学应力相关数据,不需要逐点移动扫描,缩短样品检测耗时。
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更新日期
2026-08-10 - 02
厂商性质
代理商 - 03
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2026-08-05





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