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日本岩通iwatsu 高频 B-H 分析仪

描述:日本岩通iwatsu 高频 B-H 分析仪。专为高频软磁材料、功率磁性元件高精度磁性检测打造,覆盖 10Hz~30MHz 全频段测量,适配第三代半导体 SiC、GaN 配套高频磁芯检测需求。仪器采用行业标准 CROSS-POWER 测量法,高频段相位测量误差极低,单绕线模式 30MHz 相位精度可达 ±0.30°,10MHz 频段精度低至 ±0.15°,微弱磁损耗、小幅磁导率变化均可精准捕捉。

  • 产品型号:SY-8264
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-06-02
  • 访问量:35
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本岩通iwatsu 高频 B-H 分析仪

1、核心频段与模块化升级方案

SY-8264 主机基础测试频率:10Hz~1MHz,通过三款频率选件灵活拓展上限,升级无需更换整机,采购、后期扩容成本更低:
  1. SY-600 选件:拓展 1MHz~10MHz

  2. SY-601 选件:拓展 1MHz~20MHz

  3. SY-602 选件:拓展 1MHz~30MHz

    支持单绕线、双绕线两种测量绕制方式;单绕线法全频段 0~30MHz 均可保证测量精度,双绕线法精度保障区间至 10MHz,满足不同尺寸磁环、磁芯样品的制样测量需求。

2、超高精度高频测量技术

仪器遵循 IEC62044-3 标准 CROSS-POWER 测量算法,针对高频信号进行振幅、相位全回路补偿,大幅降低高频下的相位偏移误差,解决传统测试仪 30MHz 频段损耗数据失真问题:
  • 10MHz 频段相位精度:±0.15°(代表值)

  • 30MHz 频段相位精度:±0.30°(单绕线,代表值)

    内部波形采样点数大幅提升,高密度采样还原完整磁滞回线,精准识别矫顽力、剩余磁通等细微磁性指标,即使低损耗粉芯、超薄纳米晶带材也能获得稳定、可复现的测量数据。单次测试一键输出 26 项完整磁性参数,包含磁通密度 Bm、磁场强度 Hm、铁芯损耗 Pc、振幅磁导率、微分磁导率、矫顽力、剩磁、损耗密度等研发关键指标。

3、人性化操作与数据解析系统

  1. 双操作模式:机身正面实体旋钮按键,搭配外置鼠标、键盘接口,大屏触控式数据界面,新手快速上手,批量测试操作效率更高;

  2. 批量数据解析功能:自定义单次循环测量次数、测量间隔,自动统计多组样品数据,同步显示最大值、最小值、平均值,省去人工记录、计算步骤;

  3. 多曲线同步输出:屏幕实时绘制 B-H 磁滞回线、初始磁化曲线、磁导率频率曲线、铁芯损耗频率曲线,曲线可本地存储、截图导出,支持外接打印机输出纸质检测报告;

  4. 远程控制软件适配:配套 SY-810 上位机软件,电脑远程控制仪器启停、修改测试条件、批量导出数据,适配自动化产线集成、实验室无人值守测试。

日本岩通iwatsu 高频 B-H 分析仪

4、完好的配套系统兼容能力

整机兼容岩通前代 SY-8218、SY-8219 所有外围测试设备,原有自动化系统可直接复用,无需重新搭建:
  • 高低温自动扫描台 SY-320A/SY-321A/SY-330A:覆盖 - 55℃~180℃宽温区,批量测试温度特性;

  • 直流偏置系统 SY-960/961/962:最大叠加 30A 直流偏置电流,模拟电源实际直流工作工况;

  • 大功率励磁放大器 SY-5001:提升励磁电压、电流输出,适配大尺寸磁芯、高饱和磁通材料测量;

  • 小型单片试样夹具 SY-956:支持最小 36mm 小型板材软磁样品开路测量,适配超薄金属带材。

5、适配材料与元器件应用场景

软磁材料研发检测

纳米晶、非晶合金、铁硅、铁硅铝、坡莫合金、锰锌铁氧体、镍锌铁氧体、金属磁粉芯、超薄磁性带材;

功率磁性元件产线检测

高频功率电感、共模电感、平面变压器、SiC/GaN 开关电源磁芯、车载 DC-DC 电感、光伏逆变变压器、储能滤波器磁芯;

行业应用领域

第三代半导体电源研发、新能源汽车电控、光伏储能设备、通信高频电源、实验室材料科研、磁性元件来料质检。

6、整机核心优势汇总

  1. 行业顶尖 30MHz 全频段测量,适配当下高频开关电源、宽禁带半导体配套磁芯检测;

  2. 模块化频率升级,基础主机低成本起步,后期按需拓展高频,设备生命周期更长;

  3. 极低相位测量误差,30MHz 高频段依旧保证铁芯损耗、磁导率数据精准稳定;

  4. 单次 26 项磁性参数自动测算,搭配批量数据统计功能,大幅减少人工处理工作量;

  5. 新旧配件全兼容,原有高低温台、直流偏置电源可直接对接,降低系统改造投入;

  6. 双操作交互 + 电脑远程控制,兼顾实验室手动研发、产线自动化批量测试两种需求;

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