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描述：日本napson纳普森接触式热电功率PN探测器。依靠冷热探针接触样品产生温差电动势，快速区分半导体材料 P 型、N 型导电属性，分一体式单探头、分体双探针两种选配探头，适配 2 英寸以上单晶硅晶圆、硅棒、硅锭、碳化硅衬底、光伏单晶原料快速抽检，整机小型桌面机身，开机即测无需校准，是半导体来料、硅料入库、产线工艺巡检常用 PN 判定设备。

产品型号：PN-12α
厂商性质：代理商
更新时间：2026-06-03
访问量：100

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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本napson纳普森接触式热电功率PN探测器

1、检测工作原理

依托塞贝克温差热电效应，探头内置 PTC 恒温热电极 + 常温冷电极，探针接触半导体样品后冷热端形成温度差，内部产生热电势，仪器通过电势极性自动识别 P/N 属性，面板红绿 LED 灯直观显示结果，无复杂参数设置，单点接触瞬间出判定结果。

2、探头两种配置规格

1. 一体式单探头：冷热电极集成在同一支探笔内，单手手持单点按压即可测试，适合晶圆小片、边角料、小规格硅片快速抽检，操作便捷；2. 分体双探针：热探针、冷探针两支独立探棒，两点分开接触样品，适配大块硅锭、硅棒、长料端面检测，解决大块物料单点测温不准问题，原厂两种探头可按需互换换装。探针材质采用耐磨钨钢针，硬度高不易磨损，适配频繁量产抽检使用。

3、可测样品规格与材质

被测样品最小尺寸≥30×30mm（2 英寸以上基材），适配品类：单晶硅抛光片、硅外延片、直拉 / 区熔硅锭、硅棒、单晶光伏硅片、SiC 碳化硅单晶衬底；不适用：多晶硅块、表面镀膜晶圆、厚氧化层镜面硅片、多层薄膜基材，该类样品热电信号异常无法精准判定 PN。

4、电阻率适配量程

有效 PN 判定电阻率区间：1mΩ·cm～20kΩ·cm，覆盖低阻扩散硅片、中阻原生单晶、高阻外延片全品类常规硅料，超出量程区间仪器指示灯无明显变化，无法识别型号。

日本napson纳普森接触式热电功率PN探测器

核心产品特点

1. 瞬时出结果，探针接触样品 1 秒内完成 P/N 识别，无等待，适配大批量来料快速分选；

2. 双探头自由选配，小件用集成单探，大块硅锭用分离双探，全场景覆盖硅料检测；

3. 结构稳定故障率低，仅依靠热电物理原理，无光学元器件、无精密电路损耗，常年免维护；

4. 探针可单独更换，钨钢探针损耗后仅替换探针，不用整机返修，使用成本低；

5. 开机即用，无需预热校准，日常质检不用做标准片标定，新手可快速上手操作。

适用行业场景

半导体行业：晶圆来料入库质检、硅棒 / 硅锭分料、SiC 衬底来料 PN 复检、单晶原料入库分选；

光伏行业：单晶硅片、硅料进厂 P/N 筛选、拉晶车间头尾料型号判定；

科研院校：半导体材料实验室导电类型基础鉴别、新材料掺杂试样检测。

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1、检测工作原理

2、探头两种配置规格

3、可测样品规格与材质

4、电阻率适配量程

核心产品特点

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