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描述：日本Photonic Lattice 大视野双折射测量仪
PA-300-L 是日本 Photonic Lattice PA 系列大视野款二维双折射应力检测设备，搭载品牌光子晶体偏振阵列，取消传统旋转偏振片结构，从根源消除机械振动带来的测量偏差，专为 A4 幅面及中大尺寸透明基板全域应力扫描设计。设备采用 520nm 标准绿光光源搭配五百万像素面阵感光单元，单次拍摄即可完整输出视野内全部点位相位

产品型号：PA-300-L
厂商性质：代理商
更新时间：2026-07-01
访问量：102

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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本Photonic Lattice 大视野双折射测量仪

基础规格参数

型号：PA-300-L 大视野二维应力双折射测量系统

检测原理：光子晶体固定偏振阵列 + 斯托克斯四分量同步采集

工作波长：520nm 绿光

相位差测量区间：0～130nm

最小分辨率：0.001nm

重复精度：相位差 σ＜0.1nm；偏振轴角度 σ＜0.1°（相位差＞10nm）

标准有效视野尺寸：240×320mm

感光成像单元：2464×2056 五百万像素面阵传感器

单次完整成像检测时长：约 3 秒

输出参数：相位差 (nm)、应力主轴角度 (°)、等效应力 (MPa，选配模块)

通讯接口：千兆 GigE 远程程控接口

配套软件：PA-View 专业应力分析软件（热力图、分区统计、数据导出）

选配配件：真空吸附样品载台、显微变焦镜头、自动化产线联动模块

整机结构：立式升降主机架、平整标准样品台

供电规格：AC100～240V 宽幅交流市电

运行工况：常温无尘光学车间、半导体实验室，无强粉尘、强腐蚀直触光路工况

日本Photonic Lattice 大视野双折射测量仪

使用优势

大视野一体成像，标准小视野机型需多次拼接工件
普通标准款视野狭小，A4 大玻璃要分 4 次以上拍摄拼接；PA-300-L 原生超大视场，单片一次成像，无拼接误差、检测工时缩减 70% 以上。
无旋转固定偏振结构，传统旋转偏振仪存在抖动漂移
电机旋转偏振设备每次拍摄位置细微偏移，低应力样品复测波动大；光子晶体固定阵列全程无运动部件，同基板多次复测数值高度统一。
纳米级低应力分辨，简易偏振设备无法捕捉微弱应力
低配应力仪仅能检测高应力工件，超薄玻璃、晶圆微弱应力无法识别；0.001nm 分辨能力，各类低应力光学元件均可精准量化。
真空吸附配套，无吸附平台薄基板翘曲产生假应力
普通实心台面超薄玻璃自然翘曲，测出虚假应力超标；真空载台全程展平样品，仅读取材料真实内部应力，缺陷判定更准确。
千兆网远程程控，单机台式设备无法对接自动化产线
无远程通讯简易仪器只能人工单机操作；支持 PLC 联动全自动测量，可整合进整条光学玻璃智能产线。
全域热力图自动分区，仅单数值读数设备无法定位缺陷
仅输出单点数值简易设备无法区分基板何处应力超标；彩色热力图直观展示整片应力分布，快速锁定切割、钢化缺陷区域。
绿光专用光学光路，多波段通用设备灵敏度不足
专为 520nm 绿光优化偏振成像算法，针对透明玻璃、晶圆灵敏度显著提升；通用多波段设备低应力信号易被噪声掩盖。
Photonic Lattice 原厂光学计量规范，应力检测数据具备公证验收效力
国产简易偏振应力设备数值仅作车间内部参考，整套光子晶体面阵检测体系匹配国际光学玻璃、半导体晶圆检验标准，完整检测台账可用于产品出厂、第三方公证审核。

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