描述：日本photonic lattice 二维面双折射测定器
本产品为日本 photonic lattice 双折射测量仪，面向各类小尺寸光学元件开展检测工作，可完成透明材料内部双折射、相位差以及残留应力的面分布评估。设备无需对样品做破坏处理，样品放置工作台即可完成全域检测，能够直观呈现材料内部各处性能差异，既可以用于实验室新品工艺开发，也可用于生产环节的成品品质抽检。

基础核心参数

1. 型号：PA‑300

2. 设备类型：双折射测量仪

3. 品牌：photonic lattice（日本）

4. 作业对象：各类光学镜片、玻璃基板、晶体、蓝宝石、石英等透明小尺寸光学元件，检测双折射、相位差、残留应力分布，研发试验与成品品质管控化验

5. 工作方式：光子晶体偏光阵列检测原理，非接触式面扫描测量，一次性获取视场内全部点位的相位差与光轴方位，可换算对应应力相关评价结果

6. 输出形式：电脑软件输出二维分布图谱，保存多组测试记录，支持数据导出，选配功能可实现远程控制、实时解析

7. 安装形式：台式整机，实验室工作台摆放，也可做产线集成改造

8. 工作环境：室内工位，低粉尘无凝露；常规交流供电，避免震动冲击

9. 可选配置：变焦镜头、镜片专用载台、遮光罩、实时分析模块、数据处理扩展软件另行选配

10. 标配配件：测量主机、标准镜头、操作手册；电脑、各类选配镜头另行选配

日本photonic lattice 二维面双折射测定器

核心功能特点

1. 面成像检测，一次采集就得到整个视场全部区域的检测数据，不会遗漏局部微弱应力变化，完整呈现样品内部性能分布情况。

2. 无旋转滤片光学结构，减少机械运动带来的扰动，降低故障概率，设备日常维护工作量小。

3. 适配小尺寸光学元件检测，选配变焦镜头可以完成微小区域微区测量，满足小件光学零件局部点位评估需求。

4. 非接触无损检测，不会对光学工件表面造成划伤损伤，成品样品检测之后可以继续流转使用。

5. 检测速度快，单次样品测量耗时短，兼顾实验室大量试样比对，也能够适配产线抽检的效率要求。

6. 配套专业分析软件，图谱可视化展示，可做数据统计、对比归档，方便出具检测相关记录。

7. 硬件扩展性好，可搭配不同镜头与工装，适配不同尺寸工件，也支持外部通讯，便于集成到自动化系统。

8. 光学镜头、传感相关易损配件可以单独更换，降低整机更换的运维投入。

适用场景

1. 光学行业，各类光学镜片、透镜元件，检测加工带来的残留应力，管控成品成像品质。

2. 半导体光学，石英、蓝宝石、碳化硅类基板元件，相位差与应力分布品质检验。

3. 材料研发，透明晶体、特种玻璃试样，工艺开发过程当中不同条件下的性能对照试验。

4. 精密零部件，各类小尺寸透明光学元件来料检验，成品批次品质抽检筛选。

5. 第三方检测机构，光学类透明工件，开展双折射相位差相关理化检测。