描述：日本oji‑keisoku 光学薄膜性能分析装置
PAM‑PR300 台式光学轴测量装置，主要面向各类光学薄膜、偏光板材开展偏振相关参数检测，可获取光轴方位、取向角度、相位差等关键指标，用来评估膜材取向均匀程度，排查光轴偏移带来的漏光、色差、视角异常等不良现象。设备采用多种偏振检测方法，单点位检测耗时短，可适配较大尺寸试样，整机结构稳固，兼顾实验室配方研发与来料入库质检。

核心参数

• 型号：PAM‑PR300

• 测量项目：偏光轴方位、配向角、相位差

• 检测原理：旋转偏振片法、平行偏振旋转法、正交偏振旋转法

• 标准工作波长：590 纳米，可更换其他波长配件

• 样品规格：边长 30‑250 毫米，厚度不超过 20 毫米

• 有效检测区域：5.8 毫米见方

• 单点检测时长：光轴检测约 4 秒

• 角度重复精度：0.006 度

• 整机外形：宽 380× 高 390× 深 610 毫米

• 整机重量：27 千克

• 系统组成：测量主机、光源单元、配套电脑

• 工作环境：温度 10‑35 摄氏度，湿度 20‑80% RH，不可结露

• 供电：交流 100 伏特

• 标配配件：PAM‑PR300 主机、光源组件、样品载台、操作说明书

• 选配配件：不同波长光源组件、样品定位工装、溯源校准证书

日本oji‑keisoku 光学薄膜性能分析装置

核心功能特点

1. 多检测模式可选，针对光轴、相位差分别匹配对应检测算法，适配偏光板、相位差膜等不同品类试样，不用更换整机硬件，切换检测模式即可完成多项目测试。

2. 检测速度快，单点位光轴检测仅数秒，做多位置扫描、多批次样品比对时，有效压缩整体检测周期，适合批量样品检验。

3. 支持大尺寸试样，可放置最大边长 250 毫米的板材，整片膜材可以多点取样检测，评估整张材料不同位置的性能均匀度。

4. 角度测量精度高，角度重复表现稳定，能够捕捉微小的光轴偏移，提前识别膜材加工、贴合过程产生的细微偏差。

5. 波长可按需更换，可替换不同波长光源配件，模拟不同可见光波段条件，评估材料在不同光谱环境下的偏振表现。

6. 样品放置简便，开放式样品载台，试样摆放定位简单，不需要复杂制样，减少样品前处理带来的人为误差。

7. 完整数据记录输出，电脑端统一完成参数设置、检测执行、数据保存，可导出检测结果，方便做批次对比、报告归档。

8. 台式稳固机身，设备自重充足，降低外界轻微振动带来的干扰，普通实验室台面即可稳定开展检测，无需特殊防震平台。

适用场景

1. 显示行业，偏光板、各类光学相位差膜来料品质检验。

2. 光学材料研发，薄膜拉伸工艺、配方开发过程中取向性能比对。

3. 膜材生产质检，监控成品光轴偏移、相位差波动，筛查不良品。

4. 零部件失效分析，排查显示器件漏光、色差问题，追溯膜材光轴相关诱因。

5. 高校科研院所，偏振光学、高分子取向相关课题实验。

6. 新材料企业，不同工艺条件下光学薄膜样品平行对比测评。

7. 第三方检测，光学膜、偏光板材偏振相关指标检测业务。

8. 需要测定光学薄膜、偏光板材光轴方位、取向角、相位差的各类检测项目。