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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本yamabun 台式离线电容式非接触测厚仪
‑ 型号：TOF‑C2‑ 测量原理：静电容量非接触式测量
‑ 适配样品：各类绝缘高分子薄膜、粘性保护膜、隔膜类基材
‑ 扫描形式：样品自动移送，支持长尺寸试样连续扫描
‑ 数据输出：可对外输出测量数据‑ 附属功能：厚度
‑面密度换算、介电常数自动设定‑ 机体形式：台式桌面机型
‑ 工作环境：5‑40 摄氏度，无冷凝，单次测量环境温度波动不宜过大
‑ 标配配件：主机、样品承载工装、操作说明书‑ 选配配件：专用探头组件、数据处理软件、试样限位耗材
非接触测量结构，探头不接触薄膜，柔软、带胶粘性样品不会产生压痕、划伤，检测后样品可继续流转使用。
适配长条薄膜自动移送扫描，可采集整条试样厚度变化，评估薄膜纵向厚度均匀性。
自带介电常数自动设定，切换不同材质薄膜时，减少人工参数设置，上手简单快捷。
即便样品表面存在轻微凹凸纹理，依旧可以稳定检测，对试样表面平整度宽容度较高。
支持厚度换算面密度，无需人工二次计算，提升实验室检测工作效率。
整机台式紧凑设计，普通实验台即可摆放，不需要复杂配套设施，适合来料抽检、配方比对试验。
可输出完整厚度数据，方便做数据留存、比对复盘，满足实验室报告整理需求。
专门针对绝缘高分子薄膜，适配多行业软膜试样离线检测，不适合金属导电箔材测量。
新能源行业，锂电池隔膜、封装绝缘膜来料抽检与工艺比对。
光学材料企业，光学保护膜、离型膜、偏光片基材厚度检测。
高分子材料实验室，PET、PI 等各类绝缘薄膜试样厚度分析。
包装薄膜生产，吹塑膜、共挤膜厚度均匀性评价。
第三方检测机构，各类绝缘软质薄膜委托检测业务。
高校科研院所，高分子薄膜相关课题试样对比实验。
胶带保护膜生产企业，粘性功能膜成品厚度品质管控。
需要采用电容非接触方式开展绝缘软薄膜离线厚度测定的各类材料检测项目。
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