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日本富士fujiwork 高精度薄膜接触式测厚仪

描述:日本富士fujiwork 高精度薄膜接触式测厚仪
本设备为紧凑型接触式精密厚度测量仪器,专门针对各类薄膜、薄片、软质材料开发,采用气释机构实现测头匀速下压,降低人为操作带来的数据波动,同时避免轻薄样品被挤压损伤。陶瓷材质测量台面平整耐磨,可适配各类薄膜、胶片、隔膜、薄胶带试样。整机支持交流市电与干电池双模式供电,台面占用空间小,可输出数字测量信号对接电脑、打印机。

  • 产品型号:HKT‑1200
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-08-20
  • 访问量:10
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本富士fujiwork 高精度薄膜接触式测厚仪

核心参数

  1. 设备型号:HKT‑1200

  2. 测量原理:接触式机械位移测量,配备气释匀速下降机构

  3. 测量量程:0‑500μm

  4. 分辨率:0.1μm

  5. 重复精度:0.2μm

  6. 线性度:±0.2%

  7. 测头规格:R30 超硬球面测头

  8. 测量台面:φ50mm 陶瓷台面,耐磨不易刮伤

  9. 输出接口:光电 RS232C、Digimatic 数字输出,可对接外设

  10. 供电方式:交流宽电压市电 / 5 节 AA 干电池,支持充电电池

  11. 外形规格:台式紧凑型机身,摆放占用台面空间小

  12. 使用环境:室内实验室,常温无凝露,避开强振动

  13. 标配配件:HKT‑1200 主机、标准测头、操作说明书

  14. 选配配件:专用分析软件、数据打印机、替换测头、真空吸附工作台、HKT‑1200L 大台面版本

日本富士fujiwork 高精度薄膜接触式测厚仪

核心功能特点

  1. 气释匀速下降机构,测头下落速度恒定,消除操作人员手动下压力度差异,测试结果重复性好,同时减少超薄薄膜受压变形损伤。

  2. 陶瓷材质测量工作台,表面硬度高,不易刮花磨损,长期反复测试不易产生凹坑,保障长期测量精度稳定。

  3. 双供电模式,既可以接市电长期连续实验,也可装入电池,设备脱离电源,灵活移动使用。

  4. 具备数字输出接口,测量数据可传输至电脑或者打印机,方便批量记录、工艺追溯、报告整理。

  5. 整机结构紧凑,台式小型机身,不会占用过多实验台面,实验室、产线质检工位都可以摆放。

  6. 可更换测头,出现磨损后直接替换探头,无需更换整机,降低后期使用成本。

  7. 可选配大台面版本 HKT‑1200L,用于尺寸更大试样,其余测量规格保持一致,适配多样化样品需求。

适用场景

  1. 薄膜行业,光学膜、包装膜、锂电隔膜厚度检测,来料与成品抽检。

  2. 胶带胶片企业,薄型胶带、树脂薄片厚度测定,工艺条件比对。

  3. 材料研发实验室,各类软质薄片试样厚度测试,配方工艺筛选。

  4. 第三方检测机构,薄膜类样品厚度检测,出具可追溯测试数据。

  5. 高校科研,新材料薄膜相关课题实验测量。

  6. 需要对薄膜、薄片开展低损伤、高精度接触式厚度检测的各类质检研发工位。

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