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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本富士fujiwork 高精度薄膜接触式测厚仪
设备型号:HKT‑1200
测量原理:接触式机械位移测量,配备气释匀速下降机构
测量量程:0‑500μm
分辨率:0.1μm
重复精度:0.2μm
线性度:±0.2%
测头规格:R30 超硬球面测头
测量台面:φ50mm 陶瓷台面,耐磨不易刮伤
输出接口:光电 RS232C、Digimatic 数字输出,可对接外设
供电方式:交流宽电压市电 / 5 节 AA 干电池,支持充电电池
外形规格:台式紧凑型机身,摆放占用台面空间小
使用环境:室内实验室,常温无凝露,避开强振动
标配配件:HKT‑1200 主机、标准测头、操作说明书
选配配件:专用分析软件、数据打印机、替换测头、真空吸附工作台、HKT‑1200L 大台面版本
气释匀速下降机构,测头下落速度恒定,消除操作人员手动下压力度差异,测试结果重复性好,同时减少超薄薄膜受压变形损伤。
陶瓷材质测量工作台,表面硬度高,不易刮花磨损,长期反复测试不易产生凹坑,保障长期测量精度稳定。
双供电模式,既可以接市电长期连续实验,也可装入电池,设备脱离电源,灵活移动使用。
具备数字输出接口,测量数据可传输至电脑或者打印机,方便批量记录、工艺追溯、报告整理。
整机结构紧凑,台式小型机身,不会占用过多实验台面,实验室、产线质检工位都可以摆放。
可更换测头,出现磨损后直接替换探头,无需更换整机,降低后期使用成本。
可选配大台面版本 HKT‑1200L,用于尺寸更大试样,其余测量规格保持一致,适配多样化样品需求。
薄膜行业,光学膜、包装膜、锂电隔膜厚度检测,来料与成品抽检。
胶带胶片企业,薄型胶带、树脂薄片厚度测定,工艺条件比对。
材料研发实验室,各类软质薄片试样厚度测试,配方工艺筛选。
第三方检测机构,薄膜类样品厚度检测,出具可追溯测试数据。
高校科研,新材料薄膜相关课题实验测量。
需要对薄膜、薄片开展低损伤、高精度接触式厚度检测的各类质检研发工位。
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