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日本santec 高速光学断层扫描装置

描述：日本santec 高速光学断层扫描装置
日本 Santec IVS‑2000‑HS 高速型光学断层扫描仪，为工业高速版本光学相干断层扫描系统，搭配高速扫描激光单元，大幅提升断层图像采集速率。整套设备由激光光源主机、控制单元以及显微扫描测头组成，对透明、半透明工件实现非接触无损检测，无需切片打磨，即可获取样品内部二维断层剖面图像，识别分层界面、内部空隙、剥离缺陷，同时完成各层厚度测量。

  • 产品型号：IVS‑2000‑HS
  • 厂商性质：代理商
  • 更新时间：2026-08-27
  • 访问量：8
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本santec 高速光学断层扫描装置

核心参数

  • 产品型号：IVS‑2000‑HS

  • 光源波长：1310nm

  • 系统构成：高速扫描激光源 + IVS‑2000‑HS 主机 + 显微扫描测头

  • 检测原理：光学相干断层扫描（OCT），非接触无损测量

  • 扫描速率：高速成像模式，适配流水线快速采样

  • 成像输出：二维断层剖面图像

  • 被测对象：透明、半透明多层材料

  • 数据接口：图像、测量数据导出接口

  • 样品承载：配套电动位移扫描平台

  • 供电：AC 交流供电

  • 工作环境：15‑30℃，湿度 20‑70% RH 无冷凝

日本santec 高速光学断层扫描装置

功能特点

  1. 高速扫描成像，相比普通版本提升采集速度，适配产线连续检测工况。

  2. 1310nm 红外光源，对半透明材料具备良好穿透能力，解析内部多层结构。

  3. 非接触无损检测，样品无需破坏制样，检测完成可继续流转使用。

  4. 可识别薄膜界面，测量分层厚度，检出内部气泡、缝隙、分层剥离缺陷。

  5. 显微扫描测头搭配电动平台，可对样品不同区域做连续扫描观测。

  6. 输出断层剖面图像，支持图像、测量数据导出，方便报告归档。

  7. 模块化硬件结构，光源、主机、测头组合装配，调试维护便捷。

  8. 可用于离线实验室抽检，也支持集成自动化设备做在线检测。

  9. 红外波段成像，降低可见光干扰，适合高分子、半导体类样品检测。

适用场景

  1. 半导体行业，多层薄膜、涂层结构高速无损筛查。

  2. 多层复合薄膜、包装膜，产线上分层厚度与缺陷在线检测。

  3. 高分子复合材料，胶层、内部气泡、分层缺陷快速检测。

  4. 电池隔膜、功能涂层，批量样品界面与厚度品质检验。

  5. 光学透明材料、透明陶瓷，内部结构高速成像分析。

  6. 新材料研发实验室，大批量样品内部结构对比测试。

  7. 医疗器械半透明构件，内部缺陷无损检测。

  8. 工业流水线，样品来料与成品在线品质监控。

  9. 高校科研，高速动态过程材料内部变化观测实验。

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