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日本santec 光学坐标测量装置

描述：日本santec 光学坐标测量装置
日本 Santec OPS‑1000 光学坐标测量装置，属于干涉式光学三维测量系统，将高速可调谐激光干涉技术用于三维形貌检测。整套设备由激光控制主机、光学测量头、电动 XY 扫描平台与三维处理软件构成，无需接触工件表面，即可完成复杂零件三维坐标、轮廓形貌扫描，输出点云数据。对哑光、深色、弱反射材质同样具备稳定检出能力。

  • 产品型号：OPS‑1000
  • 厂商性质：代理商
  • 更新时间：2026-08-27
  • 访问量：11
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本santec 光学坐标测量装置

核心参数

  • 产品型号：OPS‑1000

  • 测量原理：高速波长可变激光干涉法

  • 最小受光灵敏度：100dB

  • 系统动态范围：＞70dB

  • 最高扫描速度：400000 点 / 秒

  • 光路形式：单光束同轴共光路测量

  • Z 向测量范围：最大 1000mm

  • 工作距离：最大 1040mm

  • 重复精度：Z 向可达 ±1μm

  • 输出数据：三维点云，可导出通用格式

  • 适配材质：金属、陶瓷、树脂、复合材料、镜面、深色哑光工件

  • 供电：AC 交流供电

  • 工作环境：15‑30℃，湿度 20‑70% RH 无冷凝

日本santec 光学坐标测量装置

功能特点

  1. 超高接收灵敏度，深色、哑光、弱反光工件也可稳定采集表面三维数据，拓展可测材料范围。

  2. 单光束同轴光路，深孔、型腔、陡峭异形曲面也能完成扫描，减少结构遮挡带来的数据缺失。

  3. 高速点云采集，每秒最高 40 万测点，兼顾实验室抽检和产线大批量检测效率。

  4. 相干测量原理，不受车间环境光、杂散光干扰，生产现场测量结果稳定可靠。

  5. 长工作距离，被测件与镜头间隔大，可测量高低落差大的零部件。

  6. 非接触无损检测，测量过程不会划伤工件，样品检测后可继续流转。

  7. 搭载电动 XY 扫描平台，可自动完成大面积样品分区扫描。

  8. 配套三维分析软件，可做轮廓、高度差、粗糙度、缺陷分析，点云数据支持对外导出。

  9. 模块化结构，可配置不同镜头，灵活切换大视场或者高精度小视场测量工况。

适用场景

  1. 精密模具、切削刀具，刃口形貌、磨损状态三维检测。

  2. 半导体封装零部件，表面轮廓、台阶高度、缺陷筛查。

  3. 汽车零部件，激光焊接焊缝形貌、凹坑气孔三维测量。

  4. 复合材料、陶瓷件，表面起伏、分层缺陷无损检测。

  5. 光学元器件，微透镜阵列、非球面镜片轮廓测试。

  6. 高校科研实验室，新材料表面形貌研究试验。

  7. 精密机械加工，工件三维轮廓、尺寸、粗糙度评估。

  8. 产线在线自动化检测，零部件全数品质监控。

  9. 失效分析，断口表面三维形貌观测分析。

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