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日本尼康光栅式高精度高度计位移高度测量仪

描述:日本尼康光栅式高精度高度计位移高度测量仪MH-15M 为光栅测头,搭配 TC-101A 数显计数器组成整套高精度高度测量系统,测量量程 0~15mm,最小读数 0.01μm,20℃下精度 0.7μm。内置光栅传感,搭配 RS232 数据输出,支持合格判定、统计运算。测针磨损、台面震动、温变会带来测量偏差。适合精密零部件厚度、高度差检测,放置在防震恒温检测工位。

  • 产品型号:MH-15M+TC-101A
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-09-09
  • 访问量:22
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本尼康光栅式高精度高度计位移高度测量仪

日本尼康光栅式高精度高度计位移高度测量仪

MH-15M+TC-101A 是日本尼康 DIGIMICRO 系列光栅式数显高度测量组合,MH-15M 为光栅位移测头,TC-101A 为专用显示计数器,二者配套使用,用于微小高度差、厚度、台阶尺寸的精密定量检测,广泛应用于精密制造行业的品质管控与实验室样品测量。依靠内置光栅尺采集位移信号,区别于普通百分表,实现亚微米级稳定测量。产品优势:

  1. 超高测量分辨率,最小读数可达 0.01μm,20℃环境下系统精度 0.7μm,可捕捉微米级微小高度差,适合超薄工件、精密台阶、薄膜厚度检测。

  2. TC-101A 计数器功能丰富,自带统计运算、直方图、批量合格判定功能,一键判定良品 / 不良品,减少人工记录工作量;支持 RS-232C 与打印机输出,数据可导出用于品质追溯。

  3. MH-15M 测头测量力稳定,向下约 0.64N,侧向 0.44N,对软质薄膜、薄工件压痕影响小,降低压塌样品带来的测量误差。

  4. 测量响应最高 100mm/s,检测速度快,支持批量工件快速抽检;可更换多种规格测针,适配平面、小孔、曲面等不同样品形态。

  5. 整机稳定性强,光栅传感结构长期使用漂移小,支持长时间连续批量检测,适配实验室离线检测与自动化工装集成。

参考技术数据:量程 0~15mm;最小读取 0.01μm;精度 0.7μm (20℃);测头重量 220g;测量力向下 0.64N;输出 RS232C;工作温度 0~40℃。

适用场景:半导体晶片厚度、台阶高度检测;精密连接器、端子尺寸测量;光学薄膜、PET 薄片厚度检测;精密注塑件、冲压件高度差质检;实验室材料试样厚度测试;自动化在线厚度检测工装集成。使用局限:整套系统对温度变化、台面震动敏感;测针为消耗件,磨损后精度下降;需要搭配大理石防震平台;粉尘进入测头内部会损伤光栅。


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