描述：日本YAMABUN山文自动送料薄膜测厚仪日本 YAMABUN 山文 TOF-6R001 桌面离线型薄膜片材测厚仪，自带自动供料输送机构，采用线性光栅接触式检测。量程 5～100μm，最小显示 0.01μm，配备 0.12N、0.19N 两档低压测头，降低超薄薄膜受压形变。支持长条试样连续扫描，可输出厚度曲线、雷达分布图，自动统计极值、标准差。连接电脑存储数据，消除人工操作带来的偏差，适合 PI 膜

日本YAMABUN山文自动送料薄膜测厚仪日本YAMABUN山文自动送料薄膜测厚仪

日本 YAMABUN 山文 TOF-6R001 桌面离线型薄膜片材测厚仪，自带自动供料输送机构，采用线性光栅接触式检测。量程 5～100μm，最小显示 0.01μm，配备 0.12N、0.19N 两档低压测头，降低超薄薄膜受压形变。支持长条试样连续扫描，可输出厚度曲线、雷达分布图，自动统计极值、标准差。连接电脑存储数据，消除人工操作带来的偏差，适合 PI 膜、锂电隔膜、光学薄膜、纳米涂层基材的实验室抽检与工艺验证。

本款 TOF-6R001 是山文电气面向超薄精密薄膜开发的台式离线测厚设备，区别于在线产线测厚设备，属于实验室、质检工位取样检测机型，搭载辊式自动送料结构，试样放置后设备自动牵引走料扫描，不需要人工手持移动样品，减少人为操作带来的定位与力度偏差，测量重复性稳定。整机结构紧凑，台面摆放占用空间小，适合研发实验室、品质检测室固定点位使用。从产品性能来看，设备采用线性光栅传感器采集厚度信号，分辨率高，支持 0.1mm 的微小采样间距，最长扫描试样可达 10000mm。设置两档恒定测量力，低压模式可以规避超薄软膜被压薄，保证数值贴近材料真实厚度。支持单点测量、连续往复扫描多种模式，扫描过程实时绘制厚度变化曲线，配套软件自动计算最大值、最小值、平均值、极差与标准偏差，还可生成蛛网雷达图，方便吹塑膜、流延膜的工艺调试对比。走料速度平稳，走料过程张力可控，试样不易拉伸变形，数据可以自动存储至电脑，便于批次追溯、导出报表。设备使用量块即可完成校准，校准流程简单，方便日常定期核查精度。用材方面，主机底座采用稳固基座，降低环境轻微震动对读数的影响。测头部位选用耐磨蓝宝石材质，长期反复接触薄膜，磨损缓慢，维持长期精度。输送辊表面做防滑柔和包覆，牵引试样时不容易划伤薄膜表面；内部传动部件运行平稳，走料时抖动小。壳体为防锈烤漆钣金，防尘结构适合实验室常规环境；传感器光路、光栅组件做屏蔽防护，减少环境光线干扰。型号方面，本次供应 TOF-6R001，属于山文 TOF 系列薄膜款，针对 5~100μm 极薄薄膜设计，和 TOF-4R、TOF-5R 等厚片、纸张机型的测力、量程、传感器配置有区分，不可互换使用。用途上，主要用于聚酰亚胺膜、光学功能膜、锂电池隔膜、纳米涂层基材、超薄塑料薄片、吹塑薄膜的离线厚度抽检。多用于新材料研发配方试验、产线来料抽检、成品入库检验、工艺参数对比调试，用来评估薄膜厚薄均匀度，识别局部偏厚偏薄区域，辅助调整流延、吹膜工艺。属于取样离线检测，不直接安装在生产流水线上。包装方面，主机、电源线、通讯线、标准校准量块分槽收纳在硬质防护箱，精密测头单独包裹缓冲材料，防止运输磕碰。标准配置包含测厚主机、自动送料机构、配套分析软件、说明书；卷式打印机、专用试样夹具、延长数据线属于选配配件，按需订购。使用说明方面，设备放置在平整、震动小的实验台面，避开空调直吹区域，接通电源，连接电脑通讯。开机后使用标准量块完成精度校准，根据薄膜软硬选择对应测力档位，将裁好的薄膜试样送入进料辊，设置扫描长度、采样间距，启动自动送料扫描。扫描过程中不要拉扯试样，等待走料完成后查看曲线与统计数据。每次测试结束清理辊面附着碎屑，长期不用将测头防护盖盖上，放置在恒温干燥环境存放，定期使用量块复核精度。售后服务方面，我司提供到货验收、软件安装、校准操作、数据分析指导。主机按照原厂条款提供质保，蓝宝石测头、输送辊包覆层属于消耗配件，不在质保范围，可长期供应替换件。遇到走料打滑、读数跳动、通讯无法连接、曲线无信号等问题，优先线上排查，复杂故障可对接原厂技术支持。

核心参数表

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