描述：日本 Topcon-Techno SR-LEDH 分光辐射计本款分光辐射计为日本原装产品，针对 LED 光源光学参数测量，光谱采集稳定，测量重复性好，适配光源研发、产线光学抽检，可精准获取辐照度、色温、光谱等多项指标，为光源品质管控提供数据支撑。

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更新时间：2026-11-02
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本 Topcon-Techno SR-LEDH 分光辐射计日本 Topcon-Techno SR-LEDH 分光辐射计

本款分光辐射计为日本原装产品，针对 LED 光源光学参数测量，光谱采集稳定，测量重复性好，适配光源研发、产线光学抽检，可精准获取辐照度、色温、光谱等多项指标，为光源品质管控提供数据支撑。

产品细节图可看到测量探头、主机显示面板、通讯端口、遮光罩、配套校准标准件，整机结构紧凑，探头出线位置带有防护结构，便于实验室、产线工位摆放。产品性能依托分光光栅检测原理，对 LED 光源光谱进行逐波长采集，可同步输出光谱曲线、相关色度及辐照参数，测量响应平稳，可降低杂散光带来的干扰，适合小尺寸光源、模组光源快速检测。用材选用低色散光学光栅，探测芯片稳定性好，壳体为硬质铝合金，表面抗刮，光学窗口镀膜处理，减少反光干扰。型号 SR-LEDH，用途包含 LED 光源色度、辐照度、峰值波长检测，光源老化测试、光源来料比对、光学方案验证。配套参数表包含光谱范围、波长精度、辐照度量程、重复性、接口类型、供电规格等项目，方便选型核对。产品包装采用防震铝制仪器箱，探头、主机、数据线、校准件分仓放置，防止光学镜片磕碰划伤。使用时先使用配套标准光源完成校准，将探头对准被测光源，避开环境杂光，等待读数稳定后保存数据，使用完毕盖上探头遮光盖。售后提供仪器年度校准、光路检修、软件操作指导，光学耗材、备件可长期供应。

参数项目	参数参考值
光谱范围	380nm～780nm
波长精度	±0.5nm
辐照度量程	0.01～10000 μW/cm²
重复性	≤1.5%
通讯接口	USB、RS485
供电	DC12V

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