描述：日本 LUCAS 透镜波面测量系统镜头模组装配这套透镜波面测量系统，把波面传感器、自准直部件、测量光源与对位相机集成在一台设备上。动态范围宽，可测干涉方式难以处理的大像差样品。非球面与凹凸透镜都能装夹评测，测量结果实时显示。适合镜头模组装配调校与光学器件检测。由日本工厂生产，华中地区可协助安装与调校培训。

日本 LUCAS 透镜波面测量系统镜头模组装配日本 LUCAS 透镜波面测量系统镜头模组装配

这套透镜波面测量系统，把波面传感器、自准直部件、测量光源与对位相机集成在一台设备上。动态范围宽，可测干涉方式难以处理的大像差样品。非球面与凹凸透镜都能装夹评测，测量结果实时显示。适合镜头模组装配调校与光学器件检测。由日本工厂生产，华中地区可协助安装与调校培训。

产品介绍

产品细节图整机为台式平台结构，中间为样品装夹区，两侧分别为测量光源与接收单元，上方为对位相机，可俯视观察样品位置。平台带多维调节机构，样品装夹后可微调位置与角度。侧面为控制箱与显示区，实时呈现波面数据与图像。光学件可按需更换，扩束镜、聚光透镜与参考球面装在指定位置。整机落地或台面放置，需预留光路通道与操作空间。

产品性能测量光源发出的光经样品后由波面传感器接收，配合自准直部件判断样品的光轴与焦面位置，对位相机辅助把样品摆到正确位置。一次取像即可得到波面数据，调整过程中可实时观察读数变化，不必每次都做完整扫描。动态范围大，非球面与大曲率样品也能在一次测量中落入量程，减少反复调焦。更换光学件后可适配不同口径与焦距的样品，凹面与凸面都能评测。适合装配过程中的边装边测，也适合成品的最终判定。

用材平台为金属结构，带减振设计，减少环境振动对读数的影响；装夹件为可换结构，接触面做保护处理；光学件为精密加工件，镀膜后降低反射损失；调节机构为耐磨金属件，微调后不回弹；控制箱为钣金结构，内部电气件做屏蔽。

参数表

表格

型号LUCAS 为整机系统型号，内部传感器为 PWS-1000，配套光学件按测量对象选配。选型时确认样品口径、焦距、面形类型与目标精度，据此确定光学件组合与平台规格。

用途非球面透镜面形检测、凹凸透镜波面评价、镜头模组装配调校、光学器件装配过程控制、平面样品反射与透射波面检查、研发阶段的光学系统联调。

包装木箱分体包装，平台、控制箱与光学件分开固定，光学件单独做防震包装。线缆、附件、说明书与出厂检测记录分箱放置。

使用说明就位后先调平并做减振处理，接好电源与数据线。开机预热后做基准采集，确认空载读数稳定。装夹样品时注意保护镜面，不要用硬物顶住有效口径。用对位相机把样品摆正，再用调节机构微调到光轴与焦面位置。更换光学件后重新做基准。测完取下样品，盖好镜头盖，保持平台清洁。