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光学器件

亮度计色度计测量仪折光仪滴定仪磁通计高斯计升降机连接器探头干涉仪糖度计色差仪

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SALD-2300日本SHIMADZU 激光衍射式粒度分布测量仪日本SHIMADZU 激光衍射式粒度分布测量仪本设备为日本 SHIMADZU 岛津 SALD-2300 激光衍射式粒度分布测量仪，依托激光衍射散射原理，对粉末、悬浮浆料开展粒径分布分析，支持湿式、干式多种进样模式。搭载 680nm 半导体激光光源，单一光路无需切换光源，测量区间覆盖 17nm～2500μm。

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更新日期
2026-07-22

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RM-9S日本村上色彩MCRL 立式镜面反射率测量仪日本村上色彩MCRL 立式镜面反射率测量仪本设备为日本 MCRL 村上色彩技术研究所 RM-9S 全新升级立式密闭镜面反射率测量仪，采用 25° 入射 - 25° 反射直接测量法，专门用于汽车内后视镜、棱镜防眩目镜、背镀反光镜、金属抛光面镜面反射率定量检测。整机升级密闭立式防尘箱体，搭载独特可旋转接收光路机构，旋转角度 ±15°，可切换**白天 / 夜间**双模式完成棱镜防眩镜高低反射测试。

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更新日期
2026-07-16

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EFG-0503日本Robotmation 蛋壳强度肉质物性测量仪日本Robotmation 蛋壳强度肉质物性测量仪本设备为日本乐博美推出的食品专用综合物性检测设备，搭配独立手持数显表头，可同步完成蛋壳破损强度、生鲜肉质硬度、样品厚度同步采集，适配蛋类、鲜肉、烘焙制品多类食品质检需求。机身搭载超声波垂直驱动机构，下压速度可自由调节，接触样品后自动识别破裂临界点并即时停机，避免样品过度挤压造成数据偏差。

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更新日期
2026-07-10

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75
AE1&RD1美国Devices Services 发射率测量仪美国Devices Services 发射率测量仪核心原理采用量热辐射交换法：探头内部恒温加热，仅依靠辐射换热采集信号，无需对被测样品加温，热敏薄膜、有机涂层、塑料基材不会受热变形损伤；AE1 输出与发射率线性对应的电压信号，RD1 搭载增益调节旋钮，使用标准发射率板一键校准后，屏幕可直接显示发射率数值，无需人工换算。

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更新日期
2026-07-10

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57
SH-67日本神钢sisco 超声波淬火硬化层深度测量仪日本神钢sisco 超声波淬火硬化层深度测量仪 SH-67 是日本 SISCO 神钢检测推出超声波无损淬火硬化层深度测量仪，依托金属硬化层与母材晶粒组织差异产生的超声散射回波完成深度判定，无需切割、腐蚀工件即可直接读取淬硬层数值，替代传统破坏性金相检测流程。整机搭载高清彩色液晶显示屏，支持多档超声频率与精细化增益调节，适配不同材质、不同厚度硬化层工件。

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更新日期
2026-06-26

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代理商

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