描述：日本京都电子工业KEM 红外发射率测量仪。采用主动加热 / 辐射感应原理，无需复杂样品制备，即可直接测量金属、涂层、塑料、陶瓷、复合材料等表面的发射率，广泛应用于热控涂层研发、建筑节能检测、航空航天、汽车工业及材料性能评估等领域，是热管理与红外光学研究的基础工具。

日本京都电子工业KEM 红外发射率测量仪

• 设备名称：放射率計（红外发射率测量仪）

• 品牌 / 销售方：KEM（京都电子工业，日本）

• 制造商：D&S Infrared (D&S Corporation，美国)

• 型号：AERD

• 产品类型：便携式主动式红外发射率测量设备

• 检测对象：金属、非金属、涂层、薄膜、陶瓷、复合材料、建筑材料、航空航天热控涂层等

• 检测项目：材料表面热发射率（红外发射率）

• 核心用途：热控涂层性能评估、建筑节能材料检测、汽车内饰 / 外饰热性能测试、航空航天材料研发、工业涂层质量控制、科研教学实验

• 核心优势：非接触式测量、操作简便、无需样品制备、实验室 / 现场两用、适配多种表面形态

五、外观特征

• 整体结构：分体式设计，由测量探头（传感器）、加热平台 / 样品座和 ** 数字显示单元（电压表）** 三部分组成，布局紧凑，便于携带和现场使用。

• 测量探头：圆柱形金属探头，顶部集成红外感应元件，通过线缆连接显示单元，可直接接触或近距离测量样品表面。

• 加热平台：带散热鳍片的方形加热底座，可对样品进行恒温加热，提供稳定的测量温度环境。

• 显示单元：手持式数字电压表，带 LCD 显示屏，可实时显示测量电压值，通过换算得到发射率数值，面板设有电源开关、量程调节旋钮。

日本京都电子工业KEM 红外发射率测量仪

• 主动式测量原理，结果稳定可靠采用主动加热 / 辐射感应原理，通过加热样品并测量其红外辐射强度，结合标准样品校准，计算出材料的发射率，测量结果不受环境温度和背景辐射影响，重复性好。
• 无需复杂样品制备，直接测量可直接测量平面、曲面、粗糙表面、涂层表面等多种形态的样品，无需切割、抛光或特殊处理，大幅提升测试效率。
• 操作简便，新手也能快速上手仅需将样品放置在加热平台上，将探头对准样品表面，即可在显示单元上读取数据，配合标准样品校准，快速得到发射率数值，无需专业培训。
• 实验室与现场两用，适配多场景分体式设计便于携带，既可以在实验室对标准样品进行精准测量，也可以在生产现场、工地、车间直接对成品进行检测，灵活适配不同使用环境。
• 适配多种材料，应用范围广可测量金属、非金属、涂料、陶瓷、塑料、复合材料等几乎所有固体材料的发射率，覆盖工业、科研、建筑、航空航天等多个领域。