描述：美国aztechnology 太阳反射率测量仪。同步测红外半球发射率（3–35 μm）与太阳光谱半球反射率（250–2500 nm），换算太阳吸收率。符合 ASTM E408/E903，替代停产 DB-100；轻量分体设计，电池续航 8 小时，适配实验室 / 现场平面 / 曲面测量，航天、光伏、建筑节能领域通用。

美国aztechnology 太阳反射率测量仪

TESA 2000（Total Emittance and Solar Absorptance）是 AZ Technology 与美国 NASA 航天中心联合开发的便携式发射率 / 太阳反射率二合一测量设备。集成红外发射率与太阳光谱反射率双测量模块，一台替代两台仪器，兼顾实验室高精度与现场便携性，数据可追溯至 NASA 航天级标准。

• 发射率测量（IR Emittance）

• 光谱范围：＜3 μm ～ ＞35 μm（红外全半球，无滤光片限制）

• 测量值：半球发射率 ε（法向 + 半球，室温 300K）

• 精度：±1% FS（灰体）；±3% FS（非灰体）

• 重复性：≤±0.5% FS

• 太阳光谱反射率（Solar Reflectance）

• 光谱范围：250 nm ～ 2500 nm（紫外 + 可见 + 近红外，完整太阳光谱）

• 测量值：半球反射率 ρs → 太阳吸收率 αs=1−ρs

• 精度 / 重复性：同发射率指标

• 物理与电气规格

• 结构：分体式（测量主机 + 手持显示单元）

• 主机尺寸：直径 127 mm，高 150 mm；重量约 1.0 kg

• 供电：内置可充电电池（续航约 8 小时）+ AC 适配器

• 接口：RS-232/USB，支持 PC 数据存储与报告导出

• 样品适配：平面≥1 cm；凸面≥2.5 cm；凹面≥16.5 cm

美国aztechnology 太阳反射率测量仪

• 二合一高效测量：单台设备同步获取发射率与太阳反射率，节省采购与使用成本。

• NASA 技术背书：航天级光学设计，替代停产的 Gier Dunkle DB-100，性能与可维护性更优。

• 便携适配强：轻量机身 + 电池供电，可手持贴合曲面测量，适配屋顶、光伏板、航天器涂层等现场场景。

• 稳定低维护：光学系统免校准漂移，长期重复性好，无需液氮 / 水冷，降低使用门槛。

4. 典型应用场景

• 航空航天：卫星 / 航天器热控涂层、太阳吸收率与发射率匹配测试、隔热 blanket 性能评估。

• 光伏新能源：光伏玻璃 / 背板、太阳能集热器、吸热涂层的反射率 / 吸收率检测。

• 建筑节能：冷屋顶涂料、隔热板材、保温涂层的发射率与太阳反射率评估（LEED 认证适用）。

• 工业涂层：耐高温涂层、防腐涂层、红外隐身涂层的质量控制与均匀性检测。

• 科研高校：材料光学热性能实验、论文数据采集、教学演示设备。