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日本Optiworks 模块化光谱共焦光学笔 探头

描述:日本Optiworks 模块化光谱共焦光学笔 探头
CL1 是日本 Optiworks 引进 STIL 光谱共焦技术打造的模块化多功能光学测量笔,依托色差共焦原理实现全程无接触三维测量,不会划伤工件表层。模块化镜头自由组合,可切换光斑、量程、分辨率,单支测头同时完成高度差、三维轮廓、透明材料厚度、表面粗糙度、间隙间隙多维度检测。

  • 产品型号:CL1
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-06-17
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本Optiworks 模块化光谱共焦光学笔 探头

核心测量原理

采用色差光谱共聚焦测量机制,控制器发出宽谱白光经光纤传输至 CL1 光学笔,镜头将不同波长光线分层聚焦于工件表面;被测面反射光原路返回,光谱仪识别精准聚焦波长换算垂直高度;透明材料可同步捕捉上下两层反射光谱,一次性算出材料厚度;配合 XY 位移平台连续扫描即可输出完整三维轮廓点云,全程无物理触碰,软质、超薄易碎工件也可安全检测。

整套系统硬件结构

  1. CCS-OPTIMA 光谱控制器主机

    工业金属台式机箱,集成白光光源、光谱采集芯片、数据处理单元;正面配置电源按键、状态指示灯、网口 / 串口通讯端子,侧面光纤输出接口;支持多通道扩展,可同时连接多支 CL 系列光学笔,实时输出测量数据对接 PLC、上位机测量软件。

  2. CL1 模块化光学笔(测头本体)

    圆柱形黑色精密光学探头,前端可拆卸更换倍率测量镜头,实现模块化规格切换;尾部光纤接头搭配高柔橙色光纤线缆,抗弯折、屏蔽抗车间电磁干扰;体积小巧,可直接安装机械手、CNC 检测工位、二次元 / 三次元测量设备。

  3. 可替换光学镜头模组

    分标准测量镜头、高倍微距镜头两类模块,自由更换后调整光斑直径、工作距离、测量量程,微小微孔、大曲面工件均可适配,一套主机覆盖多种检测工况。

  4. 配套高精度位移运动平台(选配)

    X/Y 双轴直线平台 + 可选旋转 C/B 轴,搭载 CL1 光学笔完成全自动三维扫描,球面、非球面、自由曲面、透镜镜片全形态轮廓测绘。

日本Optiworks 模块化光谱共焦光学笔 探头

八大核心功能优势

  1. 真正非接触测量,零工件损伤

    区别探针接触式测头、激光三角传感器,无挤压、无划痕,阳极铝、镀膜玻璃、软胶、超薄薄膜检测不会产生报废件。

  2. 全材质通用,镜面 / 粗糙面 / 透明件一机测

    金属、陶瓷、玻璃、亚克力、橡胶、皮革、液态液面均可稳定采集信号,高反光镜面不会出现激光过曝失效问题。

  3. 模块化自由搭配,灵活适配检测需求

    更换前端镜头即可调整光斑、量程、精度,微小精密零件与大尺寸工件无需更换整套测量系统,降低采购成本。

  4. 多功能一体检测,五种测量模式

    单支 CL1 可完成:三维轮廓扫描、高度 / 落差尺寸、透明件双面厚度、缝隙间隙、微观表面粗糙度五项检测,替代多款单一传感器。

  5. 超大可测倾斜角度,复杂曲面无需调平工件

    工件表面大倾角斜面、侧壁、圆弧曲面均可正常测量,不用实时调整测头垂直角度,自动化产线检测效率大幅提升。

  6. 微米级超高分辨率,微小特征精准捕捉

    超小测量光斑,微孔、微槽、细微纹路、镀层薄厚等微观特征清晰识别,满足半导体、光学镜片高精度品控标准。

  7. 高实时数据输出,自动化产线无缝集成

    控制器搭载网口、RS232、模拟量信号,测量数据毫秒级上传,联动机械手自动分拣 NG 不良品,适配 24 小时量产全检。

  8. 长效稳定低维护,车间复杂环境耐用

    光纤分体式设计,测头无电路发热;防尘密封光学结构,少量切削液、粉尘环境可长期运行,仅定期清洁镜头端面即可。

适配检测工件与行业场景

可测材质

各类金属、光学玻璃、透明薄膜、陶瓷、塑胶、橡胶、液态表面、电镀镀膜工件。

适用行业场景

  1. 光学制造:镜片、棱镜、玻璃盖板曲率、厚度、轮廓检测;

  2. 3C 电子:手机中框、屏幕盖板、陶瓷基板高度差与表面粗糙度;

  3. 半导体精密零部件:晶圆、封装微槽、镀层微米级厚度测量;

  4. 汽车精密压铸:铝铸件曲面、密封间隙、透明塑料件壁厚检测;

  5. 医疗器械:软胶导管、透明医用耗材无损伤厚度测量;

  6. 实验室精密计量:自由曲面、非球面光学元件三维轮廓测绘。


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