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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本Optiworks 模块化光谱共焦光学笔 探头
CCS-OPTIMA 光谱控制器主机
工业金属台式机箱,集成白光光源、光谱采集芯片、数据处理单元;正面配置电源按键、状态指示灯、网口 / 串口通讯端子,侧面光纤输出接口;支持多通道扩展,可同时连接多支 CL 系列光学笔,实时输出测量数据对接 PLC、上位机测量软件。
CL1 模块化光学笔(测头本体)
圆柱形黑色精密光学探头,前端可拆卸更换倍率测量镜头,实现模块化规格切换;尾部光纤接头搭配高柔橙色光纤线缆,抗弯折、屏蔽抗车间电磁干扰;体积小巧,可直接安装机械手、CNC 检测工位、二次元 / 三次元测量设备。
可替换光学镜头模组
分标准测量镜头、高倍微距镜头两类模块,自由更换后调整光斑直径、工作距离、测量量程,微小微孔、大曲面工件均可适配,一套主机覆盖多种检测工况。
配套高精度位移运动平台(选配)
X/Y 双轴直线平台 + 可选旋转 C/B 轴,搭载 CL1 光学笔完成全自动三维扫描,球面、非球面、自由曲面、透镜镜片全形态轮廓测绘。
真正非接触测量,零工件损伤
区别探针接触式测头、激光三角传感器,无挤压、无划痕,阳极铝、镀膜玻璃、软胶、超薄薄膜检测不会产生报废件。
全材质通用,镜面 / 粗糙面 / 透明件一机测
金属、陶瓷、玻璃、亚克力、橡胶、皮革、液态液面均可稳定采集信号,高反光镜面不会出现激光过曝失效问题。
模块化自由搭配,灵活适配检测需求
更换前端镜头即可调整光斑、量程、精度,微小精密零件与大尺寸工件无需更换整套测量系统,降低采购成本。
多功能一体检测,五种测量模式
单支 CL1 可完成:三维轮廓扫描、高度 / 落差尺寸、透明件双面厚度、缝隙间隙、微观表面粗糙度五项检测,替代多款单一传感器。
超大可测倾斜角度,复杂曲面无需调平工件
工件表面大倾角斜面、侧壁、圆弧曲面均可正常测量,不用实时调整测头垂直角度,自动化产线检测效率大幅提升。
微米级超高分辨率,微小特征精准捕捉
超小测量光斑,微孔、微槽、细微纹路、镀层薄厚等微观特征清晰识别,满足半导体、光学镜片高精度品控标准。
高实时数据输出,自动化产线无缝集成
控制器搭载网口、RS232、模拟量信号,测量数据毫秒级上传,联动机械手自动分拣 NG 不良品,适配 24 小时量产全检。
长效稳定低维护,车间复杂环境耐用
光纤分体式设计,测头无电路发热;防尘密封光学结构,少量切削液、粉尘环境可长期运行,仅定期清洁镜头端面即可。
光学制造:镜片、棱镜、玻璃盖板曲率、厚度、轮廓检测;
3C 电子:手机中框、屏幕盖板、陶瓷基板高度差与表面粗糙度;
半导体精密零部件:晶圆、封装微槽、镀层微米级厚度测量;
汽车精密压铸:铝铸件曲面、密封间隙、透明塑料件壁厚检测;
医疗器械:软胶导管、透明医用耗材无损伤厚度测量;
实验室精密计量:自由曲面、非球面光学元件三维轮廓测绘。
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