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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本山文yamabun 软膜连续自动送料测厚设备
TOF-4R05:宽量程款,0.03~3mm 厚薄片通用,测量压力 0.6N,适合硬质厚膜、橡胶薄片
TOF-5R01:超薄软膜专用款,量程 0.02~0.2mm,低压 0.3N 测头,隔膜、超薄吹塑膜首要选择
TOF-6R001:超高精度实验室款,分辨率 0.01μm,半导体超薄光学膜精密标定使用
测量原理:接触式线性位移量规
厚度测量范围:0.02~0.2 mm
最小显示分辨率:0.1 μm
恒定测量压力:0.3±0.01 N
可测样品长度:10~10000 mm
测量采集间距:1 mm 起自由设定
供电规格:AC 100~240V 50/60Hz
整机功耗:50VA(不含配套电脑)
适用环境:温度 5~40℃,湿度 35%~80% 无凝露
测头材质:硬质合金耐磨探头,长期测量磨损幅度小
日本山文原厂薄膜专用离线测厚设备,新能源、塑料薄膜行业常用离线留样检测机型,测量数据可用于车间品质管控记录。
0.3N 低压测头适配超薄软质隔膜、胶片,规避重压造成材料形变,测量数值贴合真实产品厚度状态。
自动送料扫描模式,取消人工手持操作带来的手感偏差,同一样品多次复测数据一致性更好。
0.02~0.2mm 专属超薄量程,针对锂电、光学薄膜细分场景,无需搭配宽量程通用机型。
配套雷达分布图表,直观呈现薄膜横向厚薄差异,快速定位生产工艺调整方向。
测量数据自动归档电脑,每批次样品厚度记录完整留存,品质审核、工艺追溯可随时调取。
桌面紧凑机身适配各类小型质检室、研发实验室,无需改造场地即可安置使用。
硬质合金耐磨测头,长期大批量样品测量磨损缓慢,可拉长定期校准间隔。
锂电池材料车间:锂电隔膜来料留样离线厚度抽检,管控隔膜厚薄一致性
吹塑薄膜加工厂:吹膜成品取样扫描,根据厚度分布调整模头、挤出工艺
光学材料实验室:离型膜、超薄光学胶片新品研发厚度对比测试
食品包装薄膜企业:复合包装膜、保鲜薄膜成品品质离线复检
新材料研发机构:各类高分子超薄薄膜配方调试,采集厚度变化数据
纸张薄片加工厂:超薄特种工艺纸张精密厚度分段检测
塑胶挤出车间:薄膜产线每日留样,批量筛查厚度波动不良批次
第三方材料检测实验室:薄膜样品标准化厚度检测,出具合规检测数据
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