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日本katsura 光学式非接触厚度测量主机

描述:日本katsura 光学式非接触厚度测量主机
VH-1100 是 KATSURA 桂光学推出的透射式激光厚度测量主控单元,搭配配套投光、受光光路组成完整非接触测厚系统,面向各类超薄软质薄膜、薄片材料厚度检测场景。设备依托双光路透射测量原理,依靠激光穿透物料采集透光量换算厚度,不受薄膜颜色、轻微透光差异影响,深色膜、半透明隔膜均可稳定测量。

  • 产品型号:VH-1100
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-06-24
  • 访问量:39
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本katsura 光学式非接触厚度测量主机

同系列型号区分

  1. VH-1100 标准通用款:适配 0.01~0.5mm 常规薄膜,锂电隔膜、包装薄膜通用,市面主流选型

  2. VH-1300 宽量程款:0.01~2mm 厚薄片、硬质塑胶片专用,测量量程拓宽

  3. VH-900 小型简易款:仅离线实验室取样检测,无模拟量闭环输出功能

通用核心硬件参数

  1. 测量方式:激光透射双光路非接触测量

  2. 适配厚度区间:0.01~0.5 mm(搭配标准光路)

  3. 显示分辨率:0.01 μm

  4. 存储容量:本机可存储 8 套材质校正曲线,自动留存 10 万条厚度数据

  5. 输出接口:4-20mA 模拟量、RS485 数字通讯、声光报警端子

  6. 屏幕显示:彩色液晶,实时数值 + 厚度波动曲线同步展示

  7. 校准功能:一键自动原点校准,消除光路偏移带来的数值偏差

  8. 安装方式:台面放置、电控柜壁挂两种固定方案

  9. 供电规格:AC100~240V 宽电压工业供电

  10. 使用环境:5~40℃,湿度 30%~80% 无凝露,避开强光直射区域

日本katsura 光学式非接触厚度测量主机

核心优势

  1. 日本桂光学薄膜行业专用测厚主控,锂电、塑料薄膜加工厂常用厚度监测设备,数值可用于车间品质管控记录。

  2. 透射式测量适配多类透光、半透光薄膜,无需区分物料底色,适配多品类薄膜轮换生产。

  3. 模拟量闭环输出可联动挤出设备,依靠自动调节降低厚薄不良产出,减少原料损耗。

  4. 多条校正曲线本地存储,多规格薄膜交替生产时换产调试步骤简化。

  5. 曲线画面直观呈现厚度波动,便于工作人员快速判断挤出工艺调整方向。

  6. 本地大容量数据留存,每批次卷材厚度记录完整保存,工艺复盘、品质审核可随时调取。

  7. 壁挂、台面两种安装方案,产线、质检实验室均可灵活安置主机,无需改造场地。

  8. 一键自动校准操作简单,一线操作人员短时间熟悉即可完成日常校准维护。

适用场景

  1. 锂电池材料车间:锂电隔膜产线在线连续厚度监测,管控隔膜厚薄一致性

  2. 流延 / 吹塑薄膜加工厂:包装薄膜挤出机配套闭环厚度调节,稳定成品均匀度

  3. 光学材料企业:离型膜、超薄光学胶片离线取样厚度抽检

  4. 塑胶挤出产线:各类半透明塑胶薄片全程厚度实时监控

  5. 新材料研发实验室:高分子薄膜新品配方厚度对比测试

  6. 食品包装薄膜工厂:复合保鲜膜、拉伸膜成品厚薄品质筛查

  7. 卷材分切加工车间:来料薄膜厚度预先检测,规避分切尺寸偏差

  8. 第三方材料检测机构:薄膜样品标准化厚度检测,出具合规检测数据

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