描述：日本TOKYO DENSHOKU 显微微小面分光色差计
TC-1800M 是日本东京电色推出专业微小区域显微分光色差分析仪，专为微米、毫米级微小样品点位测色开发，搭载高精密光栅分光与光电倍增管探测单元，可同步完成反射、透射双模式光谱测量，符合 JIS Z8722 一级分光光度计标准。

适用场景

1. 液晶显示面板行业质检

   LCD/OLED 彩色滤光片、像素单元微区透射色差检测，评估彩膜均匀性、批次色彩一致性，管控显示屏幕色彩偏移问题。

2. 光学薄膜、滤光元件研发生产

   偏光片、IR 红外截止滤片、镀膜玻璃微小点位分光透过率测量，解析薄膜光谱透射曲线，优化镀膜工艺。

3. 精密印刷、电子油墨网点检测

   标签微型印刷网点、线路板阻焊微小色块反射色差，判定网点色彩偏差，解决细小印刷区域目视难以分辨的色差问题。

4. 汽车涂料 CCM 配色与漆膜检测

   汽车样板微小划痕、局部修补漆膜单点测色，采集光谱数据用于电脑配色系统建库，精准匹配整车漆面标准。

5. 半导体、微型光学元器件

   微型光学透镜、芯片表面镀膜微小区域色彩、透光性能检测，保障元器件光学成像、分光性能稳定。

6. 高校材料、光学实验室科研

   新型变色材料、透光高分子薄膜微区光谱表征，对比不同工艺试样光谱差异，支撑论文试验数据采集。

7. 第三方光学、色彩检测机构

   承接微小零部件、超薄薄膜委托分光检测，出具带完整光谱曲线的标准化检测报告，满足客户研发、出货验收需求。

8. 化妆品、微小色母颗粒分析

   彩妆微小色粉、薄膜包装微区测色，管控彩妆原料、包装膜色彩批次稳定性。

基础标准规格参数

• 型号：TC-1800M（TOKYO DENSHOKU 东京电色）

• 设备类型：微小面显微分光光度计（JIS Z8722 一类）

• 分光方式：光栅分光，光电倍增管探测器

• 波长范围：380~780nm 可见光，5nm 间隔共 81 点采集

• 测量光路：反射 45°-0° / 透射 0°-0°

• 标准光斑（反射 / 透射通用）：φ0.1、0.2、0.5、1.0mm

• 选配显微物镜：10 倍，透射最小测量 20μm

• 观测视角：2°、10° 可切换

• 标准模拟光源：A、C、D65、F6、F8、F10

• 输出色彩参数：XYZ、xy、L/a/b、L*/a*/b*、L*/u*/v*、黄度、白度、分光反射 / 透射曲线、ΔE*、色调角、彩度

• 样品载台：电动 XY 自动移动，行程 200×200mm

• 联机接口：RS232 电脑通讯，配套专业色彩分析软件

• 适用样品尺寸：≤200×200mm 片状、薄膜、滤片、面板类试样

• 工作环境：温度 10~35℃，无结露无尘实验室环境