描述：美国Devices Services 发射率测量仪
核心原理采用量热辐射交换法：探头内部恒温加热，仅依靠辐射换热采集信号，无需对被测样品加温，热敏薄膜、有机涂层、塑料基材不会受热变形损伤；AE1 输出与发射率线性对应的电压信号，RD1 搭载增益调节旋钮，使用标准发射率板一键校准后，屏幕可直接显示发射率数值，无需人工换算。

基础核心参数

1. 成套组成：AE1 发射率探测头 + RD1 缩放数字读数电压表

2. 测量基准温度：探头恒温 65℃（150℉），样品保持常温无需加热

3. 测量重复性：±0.01 发射率单位，批次检测数据一致性优异

4. 原生 AE1 探头测量口径：φ57mm（2.25 英寸）平面样品

5. 可选缩小适配头：

• AE-AD1：φ38mm（1.5 英寸）

• AE-AD3：φ25mm（1.0 英寸）微小试样

6. RD1 读数功能：可调增益旋钮校准，校准完成直读 0～1 发射率数值

7. 信号线性：AE1 输出电压与样品发射率线性对应

8. 单次测量时长：约 90 秒，整机预热稳定 30 分钟后使用

9. 供电规格：通用宽幅 AC100～240V *适配电源

10. 适配样品形态：平面板材、圆柱曲面、薄膜、涂层、金属、塑料、隔热涂料

11. 运行环境：室内 5～35℃，无强对流气流、无腐蚀性蒸汽实验室 / 产线

12. 成套配件标配：高低发射率标准校准板、散热底座、信号连接线、便携收纳箱

美国Devices Services 发射率测量仪

核心功能特点

1. 样品免加热无损测量，区别于高温炉式发射率设备，薄膜、有机涂层、Low-E 镀膜不会受热老化、脱膜

2. AE1+RD1 成套直读设计，校准后无需计算器换算，一线质检人员快速读取发射率，降低人为计算误差

3. 多尺寸可更换探测适配头，从大面积板材到微型圆柱试样全覆盖，异形零件无需定制工装

4. 量热辐射传感仅响应热辐射传导，不受样品导电性、反光度干扰，哑光 / 镜面金属均可稳定测量

5. 标准校准板配套溯源，每次产线开工快速完成校准，长期测量无数值漂移，满足审厂计量溯源要求

6. RD1 独立台式读数主机，数字显示清晰稳定，车间强光、弱光环境均可清晰读数

7. 整套设备体积小巧便携，可携带至工地现场、来料仓库完成进场材料抽检

8. 适配建筑节能、光伏、光学镀膜全行业，检测报告具备 ASTM 标准认证效力，可用于产品节能认证

9. 无复杂水冷、大型烘箱配套，仅需常规市电供电，实验室无需改造配套温控设备

10. 美国原厂统一热辐射、电压线性精度出厂标定，Low-E 玻璃、隔热涂料行业通用认可

适用场景

1. Low-E 低辐射玻璃生产车间，镀膜层发射率在线抽检，管控门窗节能隔热性能

2. 建筑反射隔热涂料制造厂，涂料样板半球发射率标准化检测，满足国标节能验收

3. 光伏组件研发实验室，光伏背板、封装薄膜红外辐射性能对比测试

4. 金属表面处理厂区，耐高温防腐涂层、阳极氧化层辐射率品质管控

5. 节能材料第三方检测机构，各类隔热板材、薄膜来料合规检测，出具 ASTM 认可报告

6. 航天热控材料实验室，保温涂层、散热基材发射率配方优化实验

7. 光学镀膜研发中心，红外光学薄膜、滤光片辐射特性精密测量

8. 暖通、材料热工高校实验室，红外发射率教学配套标准计量设备