描述：日本onosokki 微米光斑非接触测振设备
LV‑0381 属于激光多普勒测振仪配套显微镜测量单元，专门解决微小器件、微结构无法使用探头接触测量的痛点，把测振激光与显微光路做共焦点集成，可把激光压缩至微米级光斑，直接对准芯片、MEMS、压电元件上的微小点位开展振动采集。区别普通外置镜头测振，设备内置双倍率观测相机与同轴照明，观测视场与激光测点重合，测点定位直观准确，不用反复调试光斑位置。

产品型号：LV‑0381
厂商性质：代理商
更新时间：2026-08-13
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本onosokki 微米光斑非接触测振设备

核心参数

型号：LV‑0381
最小激光光斑：φ2.5μm（50 倍物镜）
适配物镜：5×、10×、20×、50 倍长工作距离显微物镜
频率范围：0.3Hz‑3MHz，选配拓展可达 20MHz
观测系统：双路不同倍率 CMOS 相机，USB2.0 图像输出
照明方式：内置同轴落射 LED 光源，亮度连续可调
调焦机构：粗调 + 微调双层旋钮，升降行程 30mm，带有防跌落锁止
激光等级：Class3R 安全等级
配套主机：适配 LV‑1800 激光多普勒测振仪主机
底座：厚重减震平台底座，降低外界振动干扰
标配配件：LV‑0381 显微测量单元、成套物镜组、相机线缆、照明电源、操作说明书
选配配件：高频拓展模块、专用样品载台、溯源校准证书

日本onosokki 微米光斑非接触测振设备

核心功能特点

共焦点光学一体化设计，激光测点与显微成像光路同轴，相机画面里看到的点位就是激光照射位置，避免普通测振设备光斑看不见、测点找不准的问题，微米级微小测点快速定位。
双倍率相机观测，一套单元同时提供大视场全局观察和高倍率局部观察，先快速找到器件整体位置，再切换高倍锁定目标微区，不用反复拆装镜头，提升样品调试效率。
长工作距离物镜配置，物镜距离样品留有充足空间，样品引线、夹具、探针不会碰撞镜头，带封装的元器件也可以直接开展测试，不用拆解样品外壳。
微米级极小光斑输出，光斑压缩至 2.5 微米，能够对准 MEMS 悬臂、压电陶瓷微区、芯片局部电极这类尺寸极小位置，普通测振大光斑无法实现的微点测试可以完成。
底座自带减震平台，抑制桌面环境振动对显微光路带来的干扰，微弱振动信号也可以稳定采集，不用额外搭建大型减震台。
同轴 LED 落射照明，亮度连续可调，针对哑光、反光、深色不同材质样品，都可以获得清晰成像，方便识别微小器件结构。
模块化单元属性，不需要整机整套采购，已有 LV‑1800 测振主机即可直接加装本单元，升级显微微区测试能力，降低设备投入。
机械升降带有防跌落锁止机构，调焦操作时不会出现滑台下坠，保护物镜与样品，适合科研人员长时间反复更换试样测试。

适用场景

MEMS 器件研发，微悬臂、微结构单点振动特性评价。
压电元件、陶瓷元器件，微区振动响应测试。
半导体芯片、微型电子器件，失效分析阶段微区振动检测。
声学、超声微型器件，高频振动特性实验验证。
高校科研院所，微小构件动力学相关课题实验。
材料研发企业，新型压电、MEMS 试样工艺条件验证。
第三方实验室，微型器件振动性能委托测试。
需要非接触方式，对微米尺寸微小点位开展单点振动测量的研发项目。

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