描述：日本bunkoukeiki 镜头型微弱光光谱单色仪
CLP‑400 属于镜头式透镜分光单色仪，区别常规反射光栅单色仪，采用相机镜头式校正像差透射光路，F2.8 大光圈，着重解决微弱荧光、弱发光样品光通量不足的难题，光采集效率更高。支持多路光纤同时接入，实现多点位置同步光谱采集，光栅可直接更换，狭缝采用千分尺精细调节，波长依靠机械刻度盘直读，不依赖软件控制。

核心参数

• 型号：CLP‑400

• 光学形式：透射透镜式分光系统，焦距 400mm

• 光圈：F2.8 大孔径，提升弱光信号接收能力

• 适用波段：400‑700nm 可见光范围，可更换光栅拓展区间

• 狭缝：入 / 出射狭缝 0‑4mm 连续可调，千分尺读数，最小刻度 10μm

• V 型孔径：高度 1‑20mm 可调，限制入射光束高度

• 光栅：可插拔更换，标配 1200 线 /mm；可选 600/300/150 线 /mm 光栅

• 分辨率：1.0nm（1200 线 /mm 光栅）

• 波长精度：±1.0nm，机械刻度盘直接读取波长数值

• 光纤接口：最多支持 50 路光纤多点同时测量，带 XY 微调光纤支架

• 滤光片支架：可安装最多 6 片滤光片，抑制高级次衍射杂光

• 探测器选配：适配 CCD、光电倍增管等外部接收器件

• 整机结构：台式底板安装，可固定于光学平台

• 标配配件：CLP‑400 分光主机、标准光栅、光纤支架、滤光片支架、操作说明书

• 选配配件：各类替换光栅、CCD 探测器组件、光纤束、溯源校准证书

日本bunkoukeiki 镜头型微弱光光谱单色仪

核心功能特点

1. 透射镜头大光圈光路，F2.8 通光孔径，对比普通反射式单色仪光通量更高，针对荧光、微弱发光样品，有效改善弱光信号信噪比，解决很多弱光样品测不到信号的痛点。

2. 多点光纤并行采集，可接入多路光纤，一次性采集多个点位光谱，不用反复移动样品，适合发光器件、多试样对照实验，提升批量对比实验效率。

3. 光栅可快速插拔更换，不同光栅对应不同分辨率与光谱范围，根据实验需求切换，不用改动整机光路，兼顾高分辨扫描与宽波段快速测量。

4. 狭缝与孔径千分尺精细可调，狭缝宽度、光束高度均可机械微调，兼顾光谱分辨率与光强，可根据样品发光强弱灵活权衡。

5. 机械刻度直读波长，依靠刻度盘、千分表条读取波长，脱离电脑软件也可完成实验调试，适合搭建简易手动光学测试平台。

6. 内置多片滤光片切换支架，手动滑动切换滤光片，压制光栅高级次衍射带来杂散光，降低光谱测量背景噪声。

7. 开放式拓展架构，输出端可自由搭配 CCD 成像采集，也可接光电倍增管做单点扫描，方便科研人员自主搭建整套测试系统，适配个性化实验方案。

8. 底板预留固定孔位，能够直接安装在光学平台上，和外部光源、样品台组合集成，适配实验室自研设备改造。

适用场景

1. 发光材料研发，荧光、磷光样品微弱光谱信号采集。

2. 光学器件检测，多点位光谱同步比对测试。

3. 高校物理实验室，光学分光教学与课题实验。

4. 新材料研发，发光薄膜、荧光粉体光谱特性评估。

5. 自主搭建光学测试平台，作为分光核心单元集成。

6. 光源研发，可见光波段光源光谱解析实验。

7. 第三方科研实验室，微弱光样品光谱委托测试。

8. 需要大光通量、多点光纤输入，搭建手动或半自主可见光分光测试系统的项目。