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日本jht 显微镜原位真空加热冷却台

描述:日本jht 显微镜原位真空加热冷却台
本款为显微镜配套原位真空冷却加热台,用于在真空环境下完成试样的降温与升温调控,可直接对冻干完整过程开展显微观测。设备集成密闭真空腔体与透光观测窗口,试样无需取出腔体,即可实时捕捉冻干、升华、相变等微观形态变化。支持编辑多段温控流程,复现实际冻干工艺的温度变化过程,适配微纳加工、半导体相关试样的工艺开发,整机结构紧凑。

  • 产品型号:FDCS‑08
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-08-20
  • 访问量:14
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本jht 显微镜原位真空加热冷却台

核心参数

  1. 设备型号:FDCS‑08

  2. 设备用途:真空环境下样品冷却、加热,原位观察冻干升华相变过程,适配微纳制造、半导体、MEMS 试样

  3. 腔体结构:密闭真空腔体,上部配置光学透光观测窗口,兼容光学显微镜成像光路

  4. 温控模式:可编程多段程序控温,升降温速率、恒温阶段可自由设定

  5. 真空接口:外接真空机组接口,可维持腔体内部低压环境

  6. 样品载台:小型样品放置工位,适配薄片、芯片、薄膜类小尺寸试样

  7. 配套单元:独立温控控制主机,腔体气路调节组件

  8. 安装形态:可直接固定于显微镜载物台,不需要对显微镜做大规模改造

  9. 公用配套:冷却水循环单元、真空发生机组

    10. 供电:交流市电供电

    11. 工作环境:材料、半导体实验室,环境温度稳定,无冷凝

    12. 标配配件:FDCS‑08 真空台主机、控制单元、连接管路、操作说明书

    13. 选配配件:不同规格观察窗口、专用样品夹具、真空机组、计量校验套件

日本jht 显微镜原位真空加热冷却台

核心功能特点

  1. 原位显微观测,完整腔体带透光窗口,冻干升华过程全程可视,能够直接记录微观结构演变,弥补普通冻干设备无法观察内部变化的短板。

  2. 宽区间冷热调控,可实现低温冷却到升温加热,完整模拟预冻、升华干燥整套冻干工艺条件。

  3. 可编程程序控温,多段工艺编辑,自动完成降温、恒温、升温整套流程,实验重复性好。

  4. 真空密闭腔体,可营造低压环境,贴近真实冻干工况,用于工艺条件摸索与试样机理研究。

  5. 适配小尺寸试样,半导体薄片、MEMS 构件、微纳薄膜样品均可放置测试,面向前沿工艺研发。

  6. 整机小巧,直接装配到现有显微镜,无需购置专用显微设备,降低实验室改造投入。

  7. 实验过程运行数据可以留存,温度、真空状态记录可回溯,便于工艺对比与报告整理。

  8. 样品拆装便捷,可快速更换试样,适合多组平行对比实验,提升研发效率。

适用场景

  1. 微纳制造研发,薄膜、微结构样品冻干工艺开发,观察升华过程微观形貌变化。

  2. 半导体、MEMS 实验室,芯片薄片试样真空低温‑高温条件下的原位显微试验。

  3. 新材料科研,冻干制备材料,研究冰晶生成、升华、孔隙成型的演变规律。

  4. 高校科研院所,相变、真空低温相关课题,开展显微镜下原位观测实验。

  5. 需要在真空环境,对微小试样完成冷却加热,同步显微观察冻干相变过程的研发实验工位。

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