描述：日本NCC 半导体落尘划痕可视化检查灯日本 NCC Quantum 便携式清洁检查灯，专为半导体无尘车间开发，依靠高直进 LED 光源，实现 10μm 以上落尘、异物与表面划痕可视化。机身小巧轻便，内置充电电池，搭配磁吸绿光适配器，可切换白光、绿光两种模式，绿光提升微粒对比度，降低眼部疲劳。筒身采用航空铝合金，低析出材质适配洁净环境。广泛用于晶圆、芯片封装、精密膜材、涂装工序的洁净巡检，可排查零件

日本NCC 半导体落尘划痕可视化检查灯日本NCC 半导体落尘划痕可视化检查灯

日本 NCC Quantum 便携式清洁检查灯，专为半导体无尘车间开发，依靠高直进 LED 光源，实现 10μm 以上落尘、异物与表面划痕可视化。机身小巧轻便，内置充电电池，搭配磁吸绿光适配器，可切换白光、绿光两种模式，绿光提升微粒对比度，降低眼部疲劳。筒身采用航空铝合金，低析出材质适配洁净环境。广泛用于晶圆、芯片封装、精密膜材、涂装工序的洁净巡检，可排查零件缝隙、狭小腔体，快速确认清洁前后状态，定位粉尘源头，是精密制造现场便携的外观洁净检测工具。

产品介绍

本产品为日本 NCC Quantum 手持清洁检查灯，用于半导体制造等精密行业，实现工件表面落尘、细微划痕目视可视化检测。产品性能：采用高直进性 LED 光源，依托反射镜聚光结构，光束平行度稳定，远近照射光斑一致性好。支持三档亮度调节与点闪功能，白光可常规检视，加装 555nm 绿光适配器后提升微小颗粒对比度，滤除有害短波光线，减轻人眼负担。可检出≥10μm 粉尘、纤维、金属碎屑、细微划痕，光源无频闪，大功率模式可连续工作 150 分钟，适配洁净室长时间巡检，光线可伸入狭小腔体、零件缝隙完成局部点位检测。用材：机身选用航空铝合金，表面阳极氧化防滑耐磨，不易掉屑，满足无尘车间使用要求。光学部件采用高透光光学玻璃，透光均匀稳定；绿光适配器为光学树脂滤光组件，滤光性能稳定。密封胶圈采用低析出耐老化橡胶，不会析出污染物损伤精密工件；内部电路板选用耐环境元器件，电池外壳绝缘良好，降低静电风险。核心参数表

表格

用途：半导体行业晶圆、芯片封装、PCB 基板表面异物与划痕检测；光学膜、涂装、贴膜工序除尘效果确认；精密零部件组装前洁净度检查；洁净室地面、设备腔体巡检，对比清扫前后清洁状态，分析不良成因，查找粉尘发生源头，同样适用于印刷、精密组装等各类无尘产线。包装：标准成套包装内含主机、绿光磁吸适配器、USB 充电线、便携收纳布袋、产品说明书；单独主机包装不含适配器与充电配件，所有包装材料选用低粉尘包装材质，开箱可直接带入洁净车间外区域。使用说明：使用前确认电量，将光源对准工件表面低角度斜向照射，斜光下异物划痕更容易显现；白光用于大面积快速筛查，加装绿光适配器用于微小微粒精细检查；禁止光束直接照射人眼，避免眼部损伤；设备存放保持干燥，清洁筒身使用无尘软布擦拭，不可使用强腐蚀性溶剂；长时间不使用，建议每月补电一次，保护内置电池。