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日本 horiba LA-960V2 激光粒度粒径测定仪

描述:日本 horiba LA-960V2 激光粒度粒径测定仪日本 horiba LA-960V2 激光粒度分析仪,依托米氏散射与夫琅禾费衍射原理开展粒径检测,双波长光源搭配多通道探测器,测量区间覆盖 10nm~5000μm。支持湿法循环测试,可选配干法进样模块,单次常规检测耗时较短。光学腔体采用密封防尘结构,降低杂散光干扰,可适配粉体、悬浮液、浆料样品。多用于半导体、新材料、医药、涂料等领域粒径分布检

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-10-26
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本 horiba LA-960V2 激光粒度粒径测定仪日本 horiba LA-960V2 激光粒度粒径测定仪

日本 horiba LA-960V2 激光粒度分析仪,依托米氏散射与夫琅禾费衍射原理开展粒径检测,双波长光源搭配多通道探测器,测量区间覆盖 10nm~5000μm。支持湿法循环测试,可选配干法进样模块,单次常规检测耗时较短。光学腔体采用密封防尘结构,降低杂散光干扰,可适配粉体、悬浮液、浆料样品。多用于半导体、新材料、医药、涂料等领域粒径分布检测,配套软件可导出粒径分布数据,满足实验室常规粒度检测需求。

本款型号为 LA-960V2,是 horiba 旗下激光散射式粒径测定设备,用于颗粒粒径分布检测。产品性能方面,搭载 650nm 红光激光器与 405nm 蓝光光源,多通道硅光电二极管探测器按对数排布,采集大角度散射信号,拓展纳米级颗粒检测能力。密封式光学底座,减少灰尘与环境光线带来的信号干扰,光路稳定性较好,支持湿法循环样品池,可增配干法进样组件适配干粉样品,配套观测相机辅助查看样品分散状态,降低样品团聚带来的数据偏差。用材上,光学基座采用铸铝结构,提升光路固定稳定性;核心光源为固态光源,使用寿命较长;接触样品管路、样品池选用适配多种分散介质的材质,具备一定耐溶剂能力。核心参数:测量原理为米氏散射、夫琅禾费衍射;测量范围 10nm~5000μm;常规单次测量时长约 60s;通讯接口 USB2.0;检测方式湿法循环,干法为选配。用途覆盖半导体抛光液、锂电材料、医药粉体、食品添加剂、涂料颜料、无机填料等样品的粒径分布测试,可用于研发配方调整、来料质检、生产过程质控。包装采用实木加固包装箱,内部缓冲泡沫隔离主机、样品池、管路、电源线、配套光盘等配件,防止运输磕碰,到货后清点配件。使用说明:放置于平稳、少振动、无尘实验室台面;开机先自检光路,选用合适分散介质,按规范添加样品,设置折射率参数完成检测;测试结束启动清洗流程,排空管路残留样品,定期检查样品池洁净度。售后服务:供应商提供到货开箱验收指导,安排技术人员上门安装调试与操作培训;质保期内非人为故障提供维修服务;长期提供配件供给、远程技术支持、方法开发咨询。


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