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  • 日本 horiba LA-960V2 激光粒度粒径测定仪
    日本 horiba LA-960V2 激光粒度粒径测定仪 日本 horiba LA-960V2 激光粒度粒径测定仪日本 horiba LA-960V2 激光粒度分析仪,依托米氏散射与夫琅禾费衍射原理开展粒径检测,双波长光源搭配多通道探测器,测量区间覆盖 10nm~5000μm。支持湿法循环测试,可选配干法进样模块,单次常规检测耗时较短。光学腔体采用密封防尘结构,降低杂散光干扰,可适配粉体、悬浮液、浆料样品。多用于半导体、新材料、医药、涂料等领域粒径分布检
    01

    更新日期

    2026-10-26
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  • NDB15A日本satake佐竹酿造精米机高精度碾磨粒度
    NDB15A日本satake佐竹酿造精米机高精度碾磨粒度 日本satake佐竹酿造精米机高精度碾磨粒度产品简介 本款设备产自日本佐竹 satake,为小批量酿造专用精米设备,搭载 cBN 立方氮化硼砂轮,可精准控制精米步合,碾磨后米粒粒度均匀,降低碎米产生。支持 300~900kg 投料容量,适配清酒酿造酒米加工,可保留米粒心白结构。整机配备提升机、糠筛收集系统,温控设计抑制米温上升,适合酒造厂小批量多品种试产与工艺研发,稳定把控酿造原料品质。
    01

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    2026-10-20
    02

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  • APMON日本intechno台式落尘粒度仪洁净室实时监测
    APMON日本intechno台式落尘粒度仪洁净室实时监测 日本intechno台式落尘粒度仪洁净室实时监测本款设备产自日本,为台式落下尘粒度分布检测设备,专门用于洁净室沉降粗大颗粒物实时监测。可自动采集落下粉尘,分析粒径分布,按设定周期输出落尘数量与粒径数据,可生成趋势图谱。弥补常规悬浮粒子计数器无法监测大粒径沉降颗粒的短板,适配半导体、光学元件、精密零部件洁净产线,用于异物溯源、洁净环境评估,支持长时间连续在线监测。
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    2026-10-20
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  • 日本issoku ADIM材料分散性自动检测粒度仪
    日本issoku ADIM材料分散性自动检测粒度仪 日本issoku ADIM材料分散性自动检测粒度仪日本 issoku 第一测范 ADIM 分散性自动检测装置,搭配粒度细度板,实现浆料颗粒粒度与分散度全自动检测。设备自动完成刮样、图像采集、颗粒解析判定,刮刀压力、角度、扫引速度可编程锁定,消除人工目视评估带来的人为误差。内置高清图像识别算法,自动识别颗粒、条纹缺陷,量化分散指标,图像与检测数据自动存档追溯。适配油墨、涂料、色浆、电子浆料、化妆品浆
    01

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    2026-10-19
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  • Ni-63 Neutralizer日本t-dylec Ni-63 气溶胶粒子中和器
    Ni-63 Neutralizer日本t-dylec Ni-63 气溶胶粒子中和器 日本t-dylec Ni-63 气溶胶粒子中和器T-Dylec Ni-63 气溶胶中和器,内置镍 63 放射源,用于气溶胶粒子电荷平衡。将多电荷粒子调整为稳态电荷分布,保障 SMPS 粒径谱仪测量准确。体积小巧,不锈钢腔体,可直接串联在气溶胶测试管路。常温常压使用,无需复杂申报,搭配静电分级器,广泛应用于气溶胶、粉尘、纳米颗粒粒径检测。
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    更新日期

    2026-09-28
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