UDM-750DL日本J-NDK 手持式带存储超声波测厚仪
日本J-NDK 手持式带存储超声波测厚仪
本设备为日本 J-NDK 日本电磁测器 UDM-750DL 手持式超声波测厚仪,依托脉冲反射式超声原理,实现各类固体材料厚度无损检测,检测作业无需破坏工件表层。机型内置数据记录模块,可长期保存现场测点数据,并支持通讯导出至电脑汇总分析。仪器可预先存储多种材质声速参数,切换被测物料时直接调取参数,调试流程简便。
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更新日期
2026-07-24 - 02
厂商性质
代理商 - 03
浏览量
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