EX-851日本SANKO DENSOKU X 射线荧光镀层膜厚仪
日本SANKO DENSOKU X 射线荧光镀层膜厚仪
本设备为日本 SANKO 电测研究所柜式能量色散 X 荧光镀层检测整机,采用油浸微焦点钨靶 X 射线管,顶部垂直照射激发样品镀层特征荧光,解析光谱强度精准测定多层金属镀层厚度与组分,全程非接触无损检测,不破坏微小端子、芯片、精密电子元件。
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更新日期
2026-07-15 - 02
厂商性质
代理商 - 03
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