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NC-80MAP日本纳普森napson 无损伤方阻检测仪
日本纳普森napson 无损伤方阻检测仪。区别 RG/RT 系列四探针接触式设备，依靠电磁涡流感应原理完成检测，全程探头不触碰晶圆表层，不会划伤外延层、镀膜与抛光面，搭配电脑程控载台自动走位扫描，生成整片晶圆阻值分布云图，主打实验室研发、来料抽检、扩散 / 镀膜工艺均匀度验证。
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更新日期
2026-06-03
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厂商性质
代理商
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161
WS-8800日本napson 全自动上下料硅片分拣测试仪
日本napson 全自动上下料硅片分拣测试仪。，区别 RT/RG 半自动机型，整机全密闭洁净腔体，依靠内置多轴伺服机械手完成晶圆从料匣取片、点位测量、按阻值 / 厚度 / 导电类型自动分拣入对应出料匣，全程无需人工插手，适配半导体晶圆厂、光伏电池片产线大批量在线分选。
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更新日期
2026-06-03
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厂商性质
代理商
- 03
浏览量
132
RT-3000/RG-2000日本纳普森napson 扩散片均匀度检测仪
日本纳普森napson 扩散片均匀度检测仪。分S 宽量程、H 高阻型两个版本，配套 RG-2000（最大 8 英寸 / 156×156mm）、RG-3000（最大 12 英寸 / 210×210mm）两款半自动 XY 电动载台组成成套测量系统，依托标准四点探针法，电脑编程自定义测试点位、阵列排布，自动完成整片晶圆多点测试。
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更新日期
2026-06-03
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134
RT-70V 系列日本纳普森napson 四探针方块电阻测试仪
日本纳普森napson 四探针方块电阻测试仪
整机搭配 4 款选配测试平台，依托经典四点探针法精准检测方块电阻与体电阻率，自带厚度、温度补偿、整机自检、自动量程切换功能，覆盖从低阻半导体到高阻镀膜全量程检测；台式、手动升降、XY 大台面、手持探头四种配置灵活选型。
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更新日期
2026-06-03
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代理商
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152
EC-80P日本纳普森napson 涡流无损电阻率检测仪
日本纳普森napson 涡流无损电阻率检测仪依靠电磁涡流原理实现非刺破无损检测，区别传统四探针接触式测试；手持探针轻触样品即可自动读数，可一键切换方块电阻、体电阻率、晶圆电阻率三种测量模式，搭配 5 款量程可选替换探头，全覆盖低阻至高阻导电材料检测，整机便携一体式。
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更新日期
2026-06-03
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