描述：日本intechno台式落尘粒度仪洁净室实时监测本款设备产自日本，为台式落下尘粒度分布检测设备，专门用于洁净室沉降粗大颗粒物实时监测。可自动采集落下粉尘，分析粒径分布，按设定周期输出落尘数量与粒径数据，可生成趋势图谱。弥补常规悬浮粒子计数器无法监测大粒径沉降颗粒的短板，适配半导体、光学元件、精密零部件洁净产线，用于异物溯源、洁净环境评估，支持长时间连续在线监测。

产品型号：APMON
厂商性质：代理商
更新时间：2026-10-20
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本intechno台式落尘粒度仪洁净室实时监测日本intechno台式落尘粒度仪洁净室实时监测

本款设备产自日本，为台式落下尘粒度分布检测设备，专门用于洁净室沉降粗大颗粒物实时监测。可自动采集落下粉尘，分析粒径分布，按设定周期输出落尘数量与粒径数据，可生成趋势图谱。弥补常规悬浮粒子计数器无法监测大粒径沉降颗粒的短板，适配半导体、光学元件、精密零部件洁净产线，用于异物溯源、洁净环境评估，支持长时间连续在线监测。

产品介绍本款日本 intechno APMON 台式落下尘粒度分布仪针对洁净室沉降粗大粒子检测开发，可捕捉空气中沉降在采样片上的颗粒，自动完成颗粒识别计数与粒度分级，按照固定周期采集数据，实时展示落尘数量变化与粒度分布曲线，符合 ISO14644-17 落尘评估相关规范。设备光学成像检测单元稳定性强，可识别 15μm 至 1000μm 区间的沉降颗粒，划分多档粒径通道，可区分不同尺寸异物，帮助工作人员追溯污染源，识别皮屑、纤维、碎屑等不同类型污染物。设备机身主体采用防静电铝合金壳体，适配洁净车间环境，表面平滑易擦拭清洁，减少积尘。整机为台式结构，放置于洁净工作台或产线工位即可布设，无需复杂管路。配套可更换采样卡盒，采样片更换操作简单，无需复杂校准。整机供电 AC100~240V，支持网络数据输出，监测数据可上传至上位系统长期存储，便于长期洁净度趋势分析。核心参数表

项目	参数
型号	APMON
检测对象	洁净室沉降落下粗大粒子
检测粒径范围	15μm~1000μm
粒径分级通道	15、30、40、50、60、70、80、90、100、200、300、400、500、600、700、800、900、1000μm
采样周期	5 分钟 / 次（可设置）
安装形式	台式放置
数据输出	网络通讯，可导出粒度分布图表
壳体材质	防静电铝合金
供电规格	AC100~240V，50/60Hz

设备用途为洁净生产环境沉降颗粒物在线监测，常规悬浮粒子计只检测悬浮小微粒子，对于会沉降在产品表面的大颗粒无法有效捕捉，本仪器专门针对这类会造成产品污染的粗大落尘进行持续监控，广泛用于半导体制造、光学器件、精密医疗器械、汽车精密零部件的无尘车间。可定位产线人员活动、设备磨损、气流异常带来的落尘污染，用于产线洁净度改善验证、工艺优化、异物根因分析。产品采用防静电木箱包装，内部填充缓冲泡沫，主机、采样卡盒、通讯线缆、操作手册等配件分开防护，规避运输振动与静电损伤。开箱后核对配件清单，放置在洁净区域稳固台面，连接电源与通讯线路，装入全新采样片后完成基础设置，设定采样周期，启动设备进入连续监测模式。更换采样卡盒时在洁净环境下操作，避免外界粉尘污染采样区域；定期清洁设备光学窗口，防止粉尘附着影响成像识别精度。采样卡属于消耗件，达到采样量后及时更换。我司可提供到货后的设备安装指导，协助完成软件连接、采样参数设置、数据导出等操作，讲解采样片更换、日常点检流程。主机按照原厂标准提供质保，质保期内非人为损坏故障，提供远程技术排查；如需现场调试，可另行沟通。采样卡盒、采样片、光学窗口等消耗配件不在主机质保范围内。使用过程中遇到数据异常、参数调试、洁净环境工况适配问题，可随时联系技术人员，同时支持耗材备件采购与设备定期校准维护。

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