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  • G102日本富士Fujifilm 光学镜片平面激光干涉仪
    G102日本富士Fujifilm 光学镜片平面激光干涉仪 日本富士Fujifilm 光学镜片平面激光干涉仪 G102 是日本富士 FUJINON 自研的菲佐式平面激光干涉设备,专为各类高精度光学平板、镜片、基板平面形貌与透射波前检测打造,依靠稳定氦氖激光光路实现纳米级光学计量,整套设备兼顾小型试样与中大口径工件检测需求。机身内置一体化变焦光学镜头,无需更换主机即可适配微小零件与大尺寸基板。
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    更新日期

    2026-06-30
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    厂商性质

    代理商
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    浏览量

    143
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