G102日本富士Fujifilm 光学镜片平面激光干涉仪
日本富士Fujifilm 光学镜片平面激光干涉仪
G102 是日本富士 FUJINON 自研的菲佐式平面激光干涉设备,专为各类高精度光学平板、镜片、基板平面形貌与透射波前检测打造,依靠稳定氦氖激光光路实现纳米级光学计量,整套设备兼顾小型试样与中大口径工件检测需求。机身内置一体化变焦光学镜头,无需更换主机即可适配微小零件与大尺寸基板。
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更新日期
2026-06-30 - 02
厂商性质
代理商 - 03
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2026-06-22

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