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日本堀场 HORIBA CMP 浆料粒度分析系统
日本堀场 HORIBA CMP 浆料粒度分析系统，覆盖纳米至微米区间粒度检测。Partica CENTRIFUGE 离心沉降粒度仪分辨纳米颗粒细微差异；LA-960V2 激光衍射粒度仪筛查粗大杂质颗粒；nanoPartica SZ-100V2 用于 Zeta 电位与纳米粒径测试。系统可直接测试原液浆料，识别团聚颗粒，适配 CMP 抛光磨料来料质控、配方研发。样品用量小，可评估抛光后清洗残留颗粒
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更新日期
2026-09-15
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厂商性质
代理商
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IF-4200日本JASCO INT 湿式图像式粒度分析仪
日本JASCO INT 湿式图像式粒度分析仪
本设备为日本 JASCO INTERNATIONAL IF-4200注射湿法图像解析粒度分布仪，专为易团聚、易碎、纳米级粉体设计，采用液体湿法分散体系，规避干法气流造成颗粒破碎、团聚假象；搭载远心光学镜头 + 440nm 单色蓝光光源，高像素相机捕捉颗粒真实轮廓，一次测量同步输出粒径、圆形度、长宽比、凹凸度三十余项形貌参数。
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更新日期
2026-07-21
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厂商性质
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NANOPHOX CS德国SYMPATEC 动态光散射纳米激光粒度仪
德国SYMPATEC 动态光散射纳米激光粒度仪
本设备为德国 SYMPATEC 新帕泰克 NANOPHOX CS 实验室级动态光散射纳米粒度仪，依托偏振分离后向散射光子交叉相关光谱 PsB-PCCS 技术，区别于传统单光路 DLS，可直接检测高浊、高浓度原液样品，无需大量稀释，规避稀释带来颗粒团聚、体系状态改变问题。
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更新日期
2026-07-20
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厂商性质
代理商
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217
IF-3300日本jascoint 注入式图像解析粒度分布仪
日本jascoint 注入式图像解析粒度分布仪
本设备为日本 jascoint 佳斯科推出 IF-3300 温控注入式图像解析粒度分布仪，采用湿法恒温分散搭配蓝光光学成像原理，可同步获取粉体颗粒完整粒径分布与形貌特征，专门针对易团聚、易碎、热敏粉体开展稳定分析。整机集成一体化恒温循环腔体，可稳定调控分散液温度，规避温度变化造成粉体团聚、溶解、粒径偏移。
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更新日期
2026-07-16
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厂商性质
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18771980172
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