日本 horiba LA-960V2 激光粒度粒径测定仪工作原理

更新时间：2026-10-26

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horiba LA-960V2 激光粒度分析仪基于静态光散射原理，结合米氏散射理论与夫琅禾费衍射模型完成颗粒粒径分布测定，是实验室常用的颗粒表征设备。

屏幕截图 2026-10-26 090811.png

设备工作时，光源发射光束穿过分散体系中的颗粒样品，颗粒会对入射光产生衍射与散射现象。颗粒尺寸和入射光波长的相对关系，决定散射光的角度分布特征。大颗粒对应的散射光集中在小角度区域，小颗粒的散射信号更多分布在大角度范围，这是粒度反演计算的基础。LA-960V2 配备双波长光源，红光适合微米级颗粒检测，蓝光对纳米颗粒散射信号更敏感，两种光源配合，拓宽整机可测粒径区间。散射光信号由多组硅光电二极管探测器接收，探测器按对数规律排布，覆盖从近 0° 到 165° 左右的采集角度，多通道布局能够完整采集不同角度的散射光强数据。探测器将光信号转化为电信号，传输至配套软件。软件内置米氏散射算法，输入样品与分散介质的折射率参数，建立光强分布和颗粒粒径之间的数学模型，反算得到样品的粒径分布结果。当颗粒粒径远大于入射光波长时，系统可调用夫琅禾费衍射模型简化计算。样品分为湿法和干法两种分散形式。湿法模式下，颗粒在液体介质中循环流动，随介质匀速穿过光路，持续完成信号采集；干法选配组件依靠气流打散粉体，减少颗粒团聚，适合不溶于液体、遇液易改性的干粉样品。系统自带的观测相机可以同步观察颗粒分散状态，帮助操作人员判断分散条件是否合适，避免团聚造成检测结果偏差。光路腔体采用密封防尘结构，减少环境灰尘进入光路形成杂散光，铸铝底座固定光学元件，降低温度变化、轻微震动带来的光路偏移，保障多次测量的数据重复性。整套检测流程，从进样、信号采集、计算到管路清洗可自动完成。该原理属于间接检测方式，输出结果为等效球形粒径分布，不直接代表颗粒真实外形。测试结果的准确性，和分散工艺、折射率参数设置、样品浓度都存在关联，操作人员需要根据样品特性调整测试条件。这套散射检测原理，适配绝大多数工业粉体与悬浮浆料，在材料研发、进厂检验、生产质控场景中应用广泛。

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