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  • FE-300日本OTSUKAEL 一体化分光干涉膜厚量测仪
    FE-300日本OTSUKAEL 一体化分光干涉膜厚量测仪 日本OTSUKAEL 一体化分光干涉膜厚量测仪 本款 FE-300 一体化膜厚量测仪由日本 OTSUKAEL 大塚电子原厂制造,整机集成光源、分光检测光路、样品载台与信号处理单元,采用光学干涉法完成非接触式无损薄膜检测。设备搭载多套可选波长光路模块,标准光斑 Φ3mm,覆盖 3nm~35μm 薄膜至厚膜测量区间,内置四种专业解析算法,可同步完成绝对反射率采集、最多 10 层薄膜厚度
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    更新日期

    2026-07-08
    02

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  • CMX2-DL美国DAKOTA NDT 超声波涂层壁厚一体测厚仪
    CMX2-DL美国DAKOTA NDT 超声波涂层壁厚一体测厚仪 美国DAKOTA NDT 超声波涂层壁厚一体测厚仪 CMX2-DL 是美国 DAKOTA NDT 推出双通道存储型超声测厚仪,搭载 100MHz FPGA 数字信号处理平台,兼顾常规壁厚测量、带漆基材无损测厚、单独涂层测厚与缺陷波形成像,无需打磨铲除防腐涂层即可读取金属真实壁厚。
    01

    更新日期

    2026-07-07
    02

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    178
  • QC-5F日本MATECH 手持式磁性基体涂层测厚仪
    QC-5F日本MATECH 手持式磁性基体涂层测厚仪 日本MATECH 手持式磁性基体涂层测厚仪 QC-5F 是日本 MATECH 推出单电磁法专用膜厚仪,仅适配铁、钢等磁性金属基材表面漆膜、粉末涂层、环氧防腐层、电镀层无损厚度测量,采用分体式可更换探头设计。
    01

    更新日期

    2026-07-06
    02

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  • OPTM-A1日本大和YAMATO 显微分光膜厚检测仪
    OPTM-A1日本大和YAMATO 显微分光膜厚检测仪 日本大和YAMATO 显微分光膜厚检测仪 本机搭载微米级显微聚焦光斑,搭配专用算法抵消基板背底反射,适配超薄氧化层、光刻胶、介质薄膜微区精准测量。标配全自动位移载台,可完成整片板材网格扫描映射,整机台式集成结构,操作软件内置多层膜拟合算法,适配半导体晶圆、显示面板、光学涂层、光伏薄膜研发与来料质检场景。
    01

    更新日期

    2026-07-06
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    200
  • VND-100A日本SHINKAWA 接触辊式涡电流在线测厚仪
    VND-100A日本SHINKAWA 接触辊式涡电流在线测厚仪 日本SHINKAWA 接触辊式涡电流在线测厚仪 VND-100A 是日本 SHINKAWA 新川电机推出 VND 系列标准款接触辊测厚转换主机,搭配涡电流非接触位移传感器与金属基准辊组成完整在线厚度检测系统,专门用于各类绝缘薄膜、橡胶卷材、无纺布连续生产厚度实时监测。
    01

    更新日期

    2026-07-03
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