GMS-103日本EMIC 磁粉探伤专用表面磁场高斯计
日本EMIC 磁粉探伤专用表面磁场高斯计
本设备为日本 EMIC(电子磁气工业)GMS-103 手持式高斯计,严格契合JIS Z 2320 磁粉探伤试验标准,专为无损检测磁粉探伤场景开发,用于测量工件表面切向磁场强度。搭载双通道霍尔传感元件,采用外推磁场推定算法,单次测量精准估算工件表面磁通密度,有效消除探头摆放距离带来的测量偏差。
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更新日期
2026-07-23 - 02
厂商性质
代理商 - 03
浏览量
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