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3MH6‑E日本ims 低噪声三轴特斯拉高斯计
日本ims 低噪声三轴特斯拉高斯计
日本 IMS 3MH6‑E 低噪声高性能特斯拉电表 / 高斯表，科研级三轴矢量磁场测量设备，主打低噪声、高精度测量性能，可同步采集 Bx、By、Bz 三维磁场分量。探头内置校准存储芯片，探头可互换，更换探头无需重新校准。整机采用屏蔽降噪电路，能够捕捉微弱磁场信号，支持直流与交流磁场测量。
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更新日期
2026-08-28
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厂商性质
代理商
- 03
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125
3MH3日本ims 模块式三轴特斯拉高斯计
日本ims 模块式三轴特斯拉高斯计
日本 IMS 3MH3 三轴特斯拉米 / 高斯计，模块化高精度三维矢量磁场测量设备，采用单芯片集成三轴传感元件，单点同步采集 Bx、By、Bz 三个方向磁场分量，规避多传感器错位带来的测量偏差。整机结构紧凑，适配实验室台面摆放，也支持嵌入集成到测试系统。配套 TP‑240 系列分离式探头，探头传感芯片体积微小，可以伸入狭小缝隙开展检测，支持直流与交流磁场测量。
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更新日期
2026-08-28
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厂商性质
代理商
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138
SMT‑2000日本ims 永磁磁场检测高斯计
日本ims 永磁磁场检测高斯计
日本 IMS SMT‑2000 智能高精度磁场数据采集高斯计，小型化磁场检测设备，搭配外置探头，通过 USB 接口连接电脑或平板设备，依靠配套软件完成磁场读数读取、曲线绘图以及数据存储。设备机身小巧，便于携带，无需大型台式主机，软件界面直观，可实时观测磁场数值变化，记录磁场动态曲线。适合现场巡检、样品测试、实验室测量，可完成永磁体磁场、零部件剩磁等多种磁场检测工作。
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更新日期
2026-08-28
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厂商性质
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98
MH‑15M日本nikon 高精度光栅测高度计测头
日本nikon 高精度光栅测高度计测头
本款为 DIGIMICRO 系列短量程光栅式数码高度计测量头，内置玻璃光栅光学编码，无机械摩擦结构，实现高精度微小位移检测，必须搭配 TC‑200/MFC‑200 计数器组成完整测量系统。量程 0‑15mm，20℃条件整机系统精度可达 0.7μm，测头本体体积小巧，重量轻，支持竖直、水平任意姿态安装。
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更新日期
2026-08-21
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厂商性质
代理商
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121
MF‑1001日本nikon 光栅式数码测长高度计
日本nikon 光栅式数码测长高度计
本款为 DIGIMICRO 系列光栅式数码测长高度计测头，内置玻璃光栅尺，非接触光学读取信号，规避机械磨损带来精度衰减问题。可搭配 MFC‑200、TC‑200 计数器组合成整套测量系统，完成高度、厚度、台阶差、位移尺寸检测，支持任意方向安装测量。测量力可定制调整，适配薄片、薄膜、小型精密零部件，数据可对外输出，用于研发实验室、产线质检工位的微米级尺寸管控。
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更新日期
2026-08-21
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代理商
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