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GT‑301日本爱美克emic 手持式残余磁测量高斯计
日本爱美克emic 手持式残余磁测量高斯计
该款手持式高斯计，专为工件残余磁性测量开发，是残磁检测场景的专用设备。适合磁粉探伤处理后、工件退磁之后的残余磁场检测，探头配置防护铝帽，整机轻巧便携，依靠电池供电，可在车间现场完成点位快速检测，用于判断工件退磁效果，管控铁磁性零部件的残余磁品质。
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更新日期
2026-08-12
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厂商性质
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- 03
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GMH‑201日本爱美克emic‑jp 便携式磁强高斯计
日本爱美克emic‑jp 便携式磁强高斯计
该款新一代标准型便携高斯计，整机为手持便携结构，适合现场巡检、现场点位磁场测量。设备读数响应快，机身轻巧便于握持，可搭配专用探头，完成永磁工件、设备空间磁场的现场测定，兼顾实验室抽检与户外现场检测，广泛用于磁性零部件校验、设备磁场评估等工作。
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更新日期
2026-08-12
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TM‑801EXP日本强力KANETEC 手持式高斯特斯拉计
日本强力KANETEC 手持式高斯特斯拉计
本产品为日本强力手持式磁场检测仪器，可完成直流磁场与交流磁场的检测工作，屏幕能够直接识别显示磁极方向。配备分离式检测探头，可更换不同规格探头适配狭小缝隙、内腔等不易触及的点位。仪器具备峰值锁定、自动归零功能，手持操作，按键逻辑简洁。支持多种供电方式，既可以现场外出巡检，也可借助通讯接口把测量记录对外输出留存。
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更新日期
2026-08-06
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114
MH‑15M+TC‑101A日本尼康NIKON 微米级光栅式高度计
日本尼康NIKON 微米级光栅式高度计
本产品为日本 NIKON 尼康 MH‑15M+TC‑101A 数显高度计，整套由 MH‑15M 测量测头与 TC‑101A 显示计数器组成，属于 DIGIMICRO 系列光栅式接触测量系统，依靠内置光电线性光栅实现位移采集，用于工件高度、厚度、台阶差、深度的精密检测。MH‑15M 测头量程 0‑15mm，采用低测力结构，减少对薄膜、薄片类软质工件的压伤。
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更新日期
2026-08-05
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81
MF-100L / MF-501 / MH-15M日本尼康NIKON 接触式数字测微高度计
日本尼康NIKON 接触式数字测微高度计
本设备为日本 NIKON 尼康 Digimicro 系列 MF-100L、MF-501、MH-15M 光栅式数字测微测头，依靠内置光栅传感原理，将测针轴向位移转化为数字化位移信号，精准测量工件高度、厚度、台阶落差、薄膜形变。三款测头区分不同行程规格，可根据样品测量区间灵活选型；测头测量力稳定可调，兼顾硬质工件与易划伤超薄试样。
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更新日期
2026-07-28
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