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  • UDM-750DL日本J-NDK 手持式带存储超声波测厚仪
    UDM-750DL日本J-NDK 手持式带存储超声波测厚仪 日本J-NDK 手持式带存储超声波测厚仪 本设备为日本 J-NDK 日本电磁测器 UDM-750DL 手持式超声波测厚仪,依托脉冲反射式超声原理,实现各类固体材料厚度无损检测,检测作业无需破坏工件表层。机型内置数据记录模块,可长期保存现场测点数据,并支持通讯导出至电脑汇总分析。仪器可预先存储多种材质声速参数,切换被测物料时直接调取参数,调试流程简便。
    01

    更新日期

    2026-07-24
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  • COULOSCOPE® CMS2德国Helmut-Fischer 库仑电解式镀层测厚仪
    COULOSCOPE® CMS2德国Helmut-Fischer 库仑电解式镀层测厚仪 德国Helmut-Fischer 库仑电解式镀层测厚仪 本设备为德国 Helmut-Fischer 菲希尔 COULOSCOPE® CMS2 库仑电解式镀层测厚仪,遵循标准库仑阳极溶解原理,适用于各类基材表面金属镀层厚度检测,同时可解析多层复合镀层结构。设备内置丰富预设镀层程序,覆盖市面主流电镀组合方案,搭载彩色显示屏实时展示电解电压变化曲线,精准捕捉镀层剥离临界点。
    01

    更新日期

    2026-07-23
    02

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    32
  • SAM-CT34NSL日本SAYAKA 干式 PCB 电路板无应力分板机
    SAM-CT34NSL日本SAYAKA 干式 PCB 电路板无应力分板机 日本SAYAKA 干式 PCB 电路板无应力分板机 本设备为日本 SAYAKA SAM-CT34NSL 全自动干式 PCB 分板机,面向大批量电子电路板生产,采用干式切削方式完成基板分割,无需预先制作 V 槽,有效降低前期制板成本。设备支持载板托盘放置与无托盘两种上料模式,搭载触控显示屏,可直观录入、保存多套切割路径程序;切削过程产生应力低,减少元器件损伤、基板翘曲问题,分割断面平整光洁。
    01

    更新日期

    2026-07-22
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  • VI3200美国VVNA 便携式色度浊度分析仪
    VI3200美国VVNA 便携式色度浊度分析仪 美国VVNA 便携式色度浊度分析仪 本设备为美国 VVNA VI3200(VI 型)便携式色度浊度分析仪,集成散射、透射复合光学检测结构,一台设备同步完成水体色度、浊度两项指标检测,无需搭配化学试剂,各类水样仅简单取样即可上机测试,适配实验室固定化验、户外河道管网、污水厂区多类作业场景。
    01

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    2026-07-20
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  • TPL-122日本TOADKK 台式混合型微粒浊度测量仪
    TPL-122日本TOADKK 台式混合型微粒浊度测量仪 日本TOADKK 台式混合型微粒浊度测量仪 本设备为日本 TOADKK 东亚电波TPL-122台式混合型微粒浊度一体机,采用**前向散射光测浊度 + 遮光法微粒计数**双光路复合检测技术,专为自来水厂滤池、膜处理设备出水水质管控开发,可同步测定水体浊度与水中微粒数量浓度,满足隐孢子虫管控标准 0.1 度以下超低浊度监测需求。
    01

    更新日期

    2026-07-17
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