描述：日本日东精工Nittoseiko 低电阻率测试仪。搭载 7.5 英寸彩色触摸屏、多档恒流、硅片专用模式、自动保持 / 定时测量、2000 组数据存储与 USB 导出。广泛用于电子、半导体、新能源、导电涂料 / 油墨 / 浆料、导电塑料 / 橡胶、金属薄膜、防静电材料、电磁屏蔽材料等领域研发与品

日本日东精工Nittoseiko 低电阻率测试仪

• 品牌：日东精工アナリテック（Nittoseiko Analytech，原三菱化学）

• 型号：MCP‑T710（Loresta‑GXⅡ）

• 类型：低电阻率测试仪（低阻计）

• 测量原理：四端子四探针法、恒流施加（消除接触电阻）

• 产地：进口

• 核心用途：低阻→中阻材料表面电阻率、体积电阻率、电导率测试；硅片、ITO 膜、导电涂料 / 油墨 / 浆料、导电塑料 / 橡胶、金属薄膜、防静电材料、屏蔽材料等

• 核心优势：超宽低阻量程、四探针高精度、硅片专用模式、多档恒流、触屏操作、数据可导出、丰富探头可选

1. 测量性能

• 电阻测量范围：10⁻⁴ ～ 10⁷ Ω（比上代 GP 扩大至 10⁻⁴）

• 测量项目：表面电阻率（Ω/□）、体积电阻率（Ω・cm）、电导率（S/cm）

• 恒流输出（6 档自动 / 手动）：1A、100mA、10mA、1mA、100μA、10μA

• 测量精度：低阻区间 **±0.5%**；数据波动≤0.005Ω（同批次薄膜）

• 执行标准：JIS K7194（四探针法）

2. 显示与操作

• 显示屏：7.5 英寸 TFT 彩色触摸屏（640×480）

• 操作语言：中文 / 英文 / 日文

• 测量模式：标准模式、硅片模式（Silicon Mode）、自动保持 Auto‑Hold、定时器 Timer

• 电流反向：支持（抵消热电势，适合硅片 / ITO 膜）

3. 数据管理

• 存储：2000 组测量数据（含统计：均值、标准差）

• 输出：USB 导出 CSV（可直接 Excel 分析）

• 判定：上下限报警，快速判合格

4. 电气与环境

• 电源：AC 85～264V（宽电压）；可选 4 节 AA 镍氢电池（便携）

• 功耗：低功耗，适合长时间实验室 / 产线使用

• 工作温度：10～40℃

• 工作湿度：20～70% RH（无凝露）

5. 机械规格

• 尺寸：W320×D285×H110mm（上盖打开 H200mm）

• 重量：约2.4kg（轻便台式）

• 标配探头：ASR 探头 RMH501（四探针）

• 兼容探头：TFP（硅片 / 薄膜，针距 1.0mm）、AP2（表面处理板，10mm）、BP（粗针）等

日本日东精工Nittoseiko 低电阻率测试仪

• 低阻下限突破：量程下探至10⁻⁴Ω，覆盖金属薄膜、高导电浆料等超低阻样品。

• 四探针高精度：四端子法消除探针 / 样品接触电阻，低阻精度达 **±0.5%**，数据稳定性强。

• 硅片专用模式：一键切换 Silicon Mode，支持电流反向，精准测量半导体硅片。

• 多档恒流自适应：6 档恒流自动匹配，微小电流（10μA）可测敏感样品，避免热损伤。

• 触屏智能操作：7.5 英寸大屏，参数 / 测量 / 数据一目了然；Auto‑Hold/Timer 适合批量测试。

• 完整数据溯源：2000 组存储 + USB‑CSV 导出，自带统计，满足 SPC 与品质审核。

• 丰富探头阵容：标配 + 多种可选探头，适配薄膜、硅片、板材、异形件等。