检查灯-津越工业设备(武汉)有限公司

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外观分析设备

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2026-08-25

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2026-08-07

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2026-06-04

日本YAMADA YP-250I高亮度卤素芯片检查光源日本YAMADA YP-250I高亮度卤素芯片检查光源是半导体行业专用高亮度卤素检查光源，搭载250W大功率卤素灯泡，全波段连续光谱、高显色无偏色，专为芯片、晶圆、基板微观缺陷检测设计。设备照度可达400000Lx以上，采用冷镜隔热技术，大幅降低热辐射损伤，支持高低两档照度切换。照射距离标准220mm、光斑均匀锐利，可清晰识别芯片划痕、针孔、脏污、镀膜不均等微米级瑕疵，散热稳定、光线一致性强

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更新日期
2026-09-11

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厂商性质
代理商

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19
日本INTECS UIH-2D 卤素高辉度表面检查灯日本INTECS UIH-2D 卤素高辉度表面检查灯UIH-2D 为 INTECS 高辉度卤素照明检查装置，采用卤素光源，搭配光纤导管输出强光，光斑亮度高、光谱连续，适合精密工件表面微小缺陷目视检查。主机内置温控保护，支持亮度调节，光线经光纤导出，主机热源远离样品。灯泡老化、光纤端面积尘、环境高温会造成照度衰减。多用于晶圆、光学元件、镀膜件外观检测，适合洁净室使用。

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更新日期
2026-09-09

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厂商性质
代理商

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27
YP‑150ID日本YAMADA山田半导体晶圆基板缺陷检查灯日本YAMADA山田半导体晶圆基板缺陷检查灯YP‑150I 为宏观观察用高照度卤素光源装置，照射光斑 φ30mm，照射距离 140mm 位置照度可达 400000Lx 以上，用于半导体硅晶圆、液晶基板表面异物、划痕、研磨不均、雾度、滑移缺陷目视检查。采用冷镜光学结构，热辐射相比传统铝镜降低约 2/3；具备两档照度一键切换，高照度 / 低照度快速切换观察

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更新日期
2026-09-09

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厂商性质
代理商

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28
PGS‑RZ日本NSK 粉粒体自动异物检查机日本NSK 粉粒体自动异物检查机针对粉体、颗粒物料开发的自动化异物检查设备，依靠视觉成像完成物料内部杂质、异色颗粒、外来异物识别，实现连续进料检测，自动完成数据记录，减少人工目检带来的不稳定因素，保障粉体原料成品品质，适配多行业粉粒体来料及成品质检。

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更新日期
2026-08-25

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厂商性质
代理商

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86
EL270F日本otsuka 悬臂式有机 EL 质检检查灯日本otsuka 悬臂式有机 EL 质检检查灯有机 EL 面发光式目视检测照明设备，发光均匀柔和，可降低反光眩光，便于识别工件表面细微划痕、压痕、颗粒异物等瑕疵。配置多关节金属悬臂与桌夹底座，灯头角度与位置可灵活调整，适用于各类平板、薄膜、精密零部件的外观质检作业。

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更新日期
2026-08-25

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厂商性质
代理商

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浏览量
70

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