测量机-津越工业设备(武汉)有限公司

产品展示/ PRODUCTS PLAY

我的位置：首页 > 产品展示 > 外观分析设备 > 测量机

产品分类 / PRODUCT

外观分析设备

测高仪汽化器电导率仪粗糙度仪划痕仪检漏仪消磁器白度计检测仪测量机光度计检查灯水平仪耐压测试仪电阻表测试仪测试仪高度计堆焊设备测量装置试验机分离器焊接机称重机

查看全部产品

相关文章 / ARTICLE

日本 MITUTOYO 三丰 SJ‑220 便携式表面粗糙度测量机核心特点

2026-08-04

日本NTN K-ECF25 变频控制器产品介绍

2026-06-01

日本北斗 NKMH‑103 空气正负离子浓度计的特点和使用

2026-09-14

日本 KRONE 克朗 KDM30 气液管路高精度数字压力表产品介绍

2026-07-08

日本 SATAKE 佐竹 TRZ300A 稻谷砻谷机工作原理

2026-10-17

日本Nick LSE‑ME40入门型接触角测量仪日本Nick LSE‑ME40入门型接触角测量仪LSE‑ME40 是日本 Nick 株式会社入门级台式接触角计，分为 Edition A 教育机构版、Edition B 通用工业版。测量范围 0‑180°，分辨率最高 0.01°，配套图像解析软件，可完成接触角、界面张力、表面自由能计算。手动样品台、手动滴液，样品台 80×80mm，适合高校教学、材料研发，评价固体表面润湿性能，设备体积小巧

01
更新日期
2026-10-17

02
厂商性质
代理商

03
浏览量
32
日本ORC UV-M10-P/S照射器紫外线光量测量仪日本ORC UV-M10-P/S照射器紫外线光量测量仪UV-M10-P、UV-M10-S 是日本 ORC 桌上型紫外线光量测量仪，用于 UV 照射设备的紫外辐照度与累积光能量检测。搭载可分离式受光传感器，可实时读取瞬时照度，同步累积紫外能量，具备曝光控制信号输出功能。测量波段 310~385nm，双量程切换，适配 UV 固化、光刻曝光工艺。UV-M10-S 为台式主机，UV-M10-P 为设备嵌入

01
更新日期
2026-10-17

02
厂商性质
代理商

03
浏览量
43
FLA-200日本Napson非接触芯片平坦度厚度测量仪日本Napson非接触芯片平坦度厚度测量仪FLA-200 是日本 Napson 奈普森半自动化非接触式晶圆平坦度与厚度测量设备，采用电容传感原理，无需触碰样品，可一次性测量厚度、TTV、Bow、Warp 及全域平坦度，符合 ASTM 标准。支持 3~8 英寸晶圆，兼容硅、SiC、GaAs、InP 等半导体材料，单点扫描速度快，内置 2D/3D 映射软件，测量数据以 CSV 导出，用于半导体芯片

01
更新日期
2026-10-16

02
厂商性质
代理商

03
浏览量
42
DSG-Di/DSG-DiR日本 ojiyas 手持式数字螺纹深度规测量仪日本 ojiyas 手持式数字螺纹深度规测量仪DSG-Di 与 DSG-DiR 是 OJIYAS（オヂヤセイキ）防水手持式数字螺纹深度规，可同步检测内螺纹有效中径与有效螺纹深度，最小读数 0.01mm。DSG-DiR 带有棘轮扭力机构，保障每次旋入扭力一致，降低人为测量偏差；显示屏 IP67 防水，旋转手柄时屏幕始终朝向操作者。支持 M1.7~M24 多规格内螺纹，USB 可传输测量数据

01
更新日期
2026-10-13

02
厂商性质
代理商

03
浏览量
41
LDM-210C日本 takikawa 泷川激光测径仪控制主机日本 takikawa 泷川激光测径仪控制主机LDM-210C 是日本 TAKIKAWA 泷川分体式激光测径仪的显示控制主机，搭配 LDM-303H/LDM-304H 激光扫描探头组成整套外径检测设备。采用遮光式激光扫描原理，非接触在线测量圆形工件外径。主机配备 5 位数码管，可显示实测外径与尺寸偏差，支持公差上下限设置与超限报警，自带外径自动控制功能。标配 RS232、±10V 模拟输出

01
更新日期
2026-10-09

02
厂商性质
代理商

03
浏览量
64

共 37 条记录，当前 1 / 8 页首页上一页下一页末页跳转到第页