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  • EC-80日本 Napson涡电流非接触片电阻测试仪
    EC-80日本 Napson涡电流非接触片电阻测试仪 日本 Napson涡电流非接触片电阻测试仪日本 Napson EC-80 手动涡电流片电阻测量器,非接触无损检测,无需探针触碰样品,规避划伤晶圆、薄膜风险。搭配 4 款可选探头覆盖不同阻值区间,支持方块电阻、电阻率同步读取,晶圆放入探头下方自动触发测量。旋钮快速设置参数,操作简单,适配最大 8 寸硅片、ITO 导电膜、外延片。机身台式紧凑,适合实验室来料抽检、工艺比对,半导体、光电薄膜产线做导电层
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    2026-10-27
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  • Loresta-FX MCP-T380日本n-analytech材料电学四探针低阻计测量
    Loresta-FX MCP-T380日本n-analytech材料电学四探针低阻计测量 日本n-analytech材料电学四探针低阻计测量该款 MCP-T380(Loresta-FX)为手持式高精度低电阻率测定仪,采用经典四探针恒流测量法,消除导线与接触电阻带来的误差;测量量程 10⁻²~10⁶Ω,自带自动量程、数值保持与定时测量功能,支持电池与适配器双供电,机身轻便,适合导电薄膜、导电橡胶、ITO 电极、电池极片、导电浆料的现场快速检测,广泛用于材料研发与产线质检
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    2026-10-26
    02

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  • 3569日本tsuruga鹤贺记录和通信低电阻测试计
    3569日本tsuruga鹤贺记录和通信低电阻测试计 日本tsuruga鹤贺记录和通信低电阻测试计日本 tsuruga 鹤贺电机 3569 便携式低电阻计,采用交流四端子测试法,消除引线电阻干扰。电阻量程 30mΩ~3kΩ,最小分辨率 1μΩ,同时可测量直流电压。内置数据记录功能,搭载 RS‑232C 通讯接口与模拟输出,可对接电脑采集数据。主机重量仅 1kg,电池 / 适配器双供电,自带便携提手。选配测温模块可采集温度并做换算,适合燃料电池、锂电池
    01

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    2026-10-14
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  • 日东精工 MCP-HT800 高阻表面体积电阻率计
    日东精工 MCP-HT800 高阻表面体积电阻率计 日东精工 MCP-HT800 高阻表面体积电阻率计,用于材料表面电阻率、体积电阻率高精度测试,量程 10³~10¹⁴Ω。内置切换开关盒,一键切换两种测试模式,搭载 29 档自动电压扫描,电压 1V~1000V。兼容 Hiresta-UP 系列多款探头,适配薄膜、塑料、防静电涂层、陶瓷、纸张等样品。彩色触摸屏操作,USB 导出数据,满足 JIS、ASTM、IEC 标准,用于绝缘、防静电材料研发与品控
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    2026-09-17
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  • 日本 napson 纳普森 EC-80P 电阻测量仪
    日本 napson 纳普森 EC-80P 电阻测量仪 日本 napson 纳普森 EC-80P 电阻测量仪EC-80P 为涡流法非接触电阻测量设备,无需探针接触样品,避免划伤晶圆与导电薄膜。支持方块电阻、体电阻率、晶圆电阻率三种模式,可搭配多款可互换探头覆盖不同量程。主机可同时连接 2 支手持探头,探头贴近样品自动触发测量,内置数据存储,测量记录可导出。多用于半导体外延片、导电薄膜、光伏材料检测,适合实验室研发及产线来料抽检,可对样品多点重复测试评估
    01

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    2026-09-11
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