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外观分析设备

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日本YAMADA YP-250I高亮度卤素芯片检查光源日本YAMADA YP-250I高亮度卤素芯片检查光源是半导体行业专用高亮度卤素检查光源，搭载250W大功率卤素灯泡，全波段连续光谱、高显色无偏色，专为芯片、晶圆、基板微观缺陷检测设计。设备照度可达400000Lx以上，采用冷镜隔热技术，大幅降低热辐射损伤，支持高低两档照度切换。照射距离标准220mm、光斑均匀锐利，可清晰识别芯片划痕、针孔、脏污、镀膜不均等微米级瑕疵，散热稳定、光线一致性强

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2026-09-11

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EMT-7300II日本robotmation全自动蛋品质新鲜度检测仪日本robotmation全自动蛋品质新鲜度检测仪是专业级全自动蛋品质综合检测仪，严格遵循USDA、ISO蛋品检测标准。设备采用非接触激光测距与RGB光谱分析技术，无损检测鸡蛋蛋重、蛋白高度、蛋黄颜色、哈夫单位四大核心指标，精准判定蛋类新鲜度与品质等级。单枚检测时长≤17秒，检测精度高、重复性好，替代人工主观评级。适用于蛋品加工厂、养殖育种基地、食品质检机构及高校科研实验，支持数据存储溯

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2026-09-11

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IM-2DT-H韩国东渡 DONG-DO 彩色数显电子水平仪韩国东渡 DONG-DO 彩色数显电子水平仪IM-2DT-H 为高精度双轴数显电子水平仪，彩色 TFT 屏幕，X/Y 两轴角度同屏实时显示，分辨率 0.001°。支持绝对值、相对置零切换，单位可切换角度或 mm/m；自带背光与补光闪光灯，暗光环境也可作业。内置锂电池，USB 充电，配备 RS232 串口输出，可连接电脑采集数据。体积小巧，单手握持，用于机床、光学平台、精密设备安装调平

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2026-09-11

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日本 napson 纳普森 EC-80P 电阻测量仪日本 napson 纳普森 EC-80P 电阻测量仪EC-80P 为涡流法非接触电阻测量设备，无需探针接触样品，避免划伤晶圆与导电薄膜。支持方块电阻、体电阻率、晶圆电阻率三种模式，可搭配多款可互换探头覆盖不同量程。主机可同时连接 2 支手持探头，探头贴近样品自动触发测量，内置数据存储，测量记录可导出。多用于半导体外延片、导电薄膜、光伏材料检测，适合实验室研发及产线来料抽检，可对样品多点重复测试评估

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2026-09-11

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MCP‑HT800（Hiresta‑UX）日本Nittoseiko日东精工高阻电阻率计测试仪日本Nittoseiko日东精工高阻电阻率计测试仪MCP‑HT800（Hiresta‑UX）高抵抗率计，遵循 JIS K6911 标准，测量范围 10³‑10¹⁴Ω，可测表面电阻率、体积电阻率日东精工ア...。7.5 英寸彩色触控屏，施加电压 1‑1000V 共 29 档位，具备电压自动扫描功能；主机内置切换盒，搭配双环电极探头，用于防静电材料、薄膜、陶瓷、涂料、纤维、建材的研发与品质管控

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2026-09-11

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