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日本SARLI 近红外光谱成像检测设备

描述:日本SARLI 近红外光谱成像检测设备
本产品为日本 SARLI 萨利 SPECT‑100 nir1 近红外 I 型光谱成像装置,工作波段 600‑1100nm,属于微型推扫式高光谱成像单元,同步获取样品空间图像信息与每一个像素对应的近红外光谱数据,实现物质成分、组织状态的空间分布可视化,多用于食品农林、生物样本、材料鉴别、环境调研的无损检测与工艺开发研究。

  • 产品型号:SPECT‑100 nir1
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-08-08
  • 访问量:13
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本SARLI 近红外光谱成像检测设备

基础核心参数

  1. 型号:SPECT‑100 nir1(近红外 I 型)

  2. 设备类型:光谱成像装置(微型高光谱成像单元)

  3. 品牌:SARLI 萨利(日本)

  4. 作业对象:果蔬、农林样本、生物组织、纺织品、塑料、纸张等样品,无损检测,获取物质光谱与空间图像,判别组分、缺陷、组织状态,科研与机器视觉开发试验

  5. 工作方式:光栅分光推扫成像,同时采集空间图像与 600‑1100nm 波段光谱信息,输出图谱立方体数据

  6. 输出形式:图谱原始数据,USB 数据输出,对接电脑软件完成解析、图像重建、光谱提取

  7. 安装形式:小型镜头接口本体,可搭载位移平台,台式实验室使用,也可集成自动化设备

  8. 工作环境:室内实验室,温度 0‑40℃,低粉尘无凝露;USB 供电,做好光学部件防尘保护

  9. 可选配置:适配工业镜头、位移推扫平台、光纤套件、波长校准光源、数据分析软件另行选配

  10. 标配配件:成像装置本体、操作手册;镜头、平台另行选配

日本SARLI 近红外光谱成像检测设备

核心功能特点

  1. 波段覆盖 600‑1100nm,兼顾可见光末端到近红外区间,适配大量有机物、高分子材料特征吸收波段,适合无损判别研究。

  2. F3.2 大相对孔径光学设计,通光效率高,杂散光抑制优秀,弱光条件下也可以获取信噪比良好的光谱图像数据。

  3. 整机小巧轻量化,仅 240g,40×40×117mm 紧凑机身,便于安装位移平台,也可嵌入机器视觉设备改造开发。

  4. 多模式测量,可搭配镜头面成像、光纤多点同步采集,也可搭建特殊光学系统解析半透明样品内部组织信息,应用方式灵活。

  5. 狭缝规格可对应不同光谱分辨率,20μm 狭缝下光谱分辨率可达 4.5nm,兼顾光谱分辨与成像采集效率。

  6. 输出完整图谱立方体,每个图像像素都对应完整光谱曲线,能够直观展现样品内部成分的空间分布差异。

  7. 适配多类科研开发,不需要复杂前处理,样品可实现非接触无损检测,不会破坏被测试样。

  8. 狭缝、光栅、传感相关易损配件可单独更换,降低整机更换的运维投入。

适用场景

  1. 农林食品行业,果蔬内部品质无损检测,果实成熟度、组织状态判别,农产品样本光谱研究。

  2. 材料研发,纺织品、纸张、塑料高分子材料鉴别,区分不同材质、组分分布。

  3. 生物科研,动植物样本、生物组织光谱成像观测,生理学相关课题实验。

  4. 环境调研,植被状态、土壤样本光谱采集分析,河湖水样相关光谱试验研究。

  5. 机器视觉研发,搭建高光谱检测方案,开发分选、缺陷识别在线检测工艺。

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