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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本topcon 二维成像式亮度均匀性测量器
型号：ua‑20y
设备类型：二维亮度均匀性测量器
品牌：topcon（日本）
作业对象：各类显示面板、背光模组、车载仪表照明、ARVR 器件、LED/OLED 发光面、光学膜片；完成二维亮度分布、均匀度、MURA 缺陷检测，用于研发评估、实验室测试、产线自动化质检
工作方式：成像式二维亮度测量；2450 万像素 CMOS 传感器；标配标准镜头，可选广角、望远镜头；量程 0.01‑50000cd/m²，选配 ND 滤片扩大量程；最快约 3 秒测量；千兆以太网通讯；标配 CI‑100 分析软件，附带 SDK 开发包
输出形式：电脑端软件展示亮度云图、均匀度、缺陷坐标；数据文件导出；SDK 支持外部设备调取测量数据，对接自动化系统
安装形式：探头式整机，可台面支架架设，也可集成安装至自动化产线设备内部
工作环境：0‑40℃，湿度 80% RH 以内无冷凝，避开强振动、粉尘油污，光学镜头做好防尘保护
可选配置：广角 / 望远镜头、ND 衰减滤片、计量校准证书另行选配
标配配件：UA‑20Y 主机、标准镜头、CI‑100 软件、操作手册；其他镜头、滤片另行选配
高像素二维成像测量，2450 万像素 CMOS，获取完整发光面亮度分布，识别 MURA、暗点、热点等缺陷。
多镜头可选，标准、广角、望远镜头互换，适配大尺寸背光、小尺寸 ARVR 器件等不同被测物。
宽亮度测量区间，覆盖低亮度至高亮度，支持 Mini‑LED、Micro‑LED 新型器件检测评估。
体积小巧重量轻，手掌级尺寸，支架摆放使用，也可嵌入产线自动化工位，节省设备安装空间。
测量速度快，单次面测量最快约 3 秒，满足产线批量样品检测节拍需求。
标配 CI‑100 分析软件，生成亮度云图，自动计算均匀度，标记缺陷位置，直接导出测试结果。
附带 SDK 开发工具包，支持上位机外部控制，便于对接工厂自动化测试系统，实现无人值守检测。
千兆以太网接口，数据传输稳定，适合长时间连续在线测量工况。
显示行业，LCD、OLED、Mini‑LED/Micro‑LED 面板及背光模组亮度均匀性、MURA 缺陷检测。
汽车零部件，车载仪表、HUD、车内外饰照明发光面亮度分布评估。
AR/VR 行业，光学器件发光面二维亮度均匀度测试，产品研发与出厂检验。
照明行业，LED、OLED 面光源亮度分布分析，评估发光面一致性。
光学材料行业，光学膜片反射、透过特性二维亮度评价。
工厂自动化产线，集成测试工位，大批量样品光学性能在线检测。
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