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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本FUNATECH 高功率 LED 表面目视检查灯
设备型号:FY‑18N
光源类型:18W 高功率白色 LED
45cm 距离中心照度:约 34000Lux(透明滤光片)
调光方式:电位器连续直流调光
滤光片:标配透明滤光片、扩散滤光片;可选 500‑600nm 绿色滤光片
LED 元件寿命:约 50000 小时
冷却方式:无风扇主动散热
整机尺寸:底座 180×120×50mm;光源头部 φ68×86mm;垂直总长度 638mm
整机重量:3.4kg(不含适配器)
功耗范围:2.8W‑22.6W
供电适配器:AC100‑240V 输入,DC24V 输出
工作环境:室内,支持洁净室使用,环境 5‑40℃
标配配件:检查灯主机、柔性灯臂、透明滤光片、扩散滤光片、电源适配器、操作说明书
选配配件:绿色滤光片组件、外接固定支架
高照度 LED 输出,可显现工件表面微米级划痕、颗粒、污点,满足半导体、显示器件高要求目视筛查。
柔性金属悬臂,光源可随意弯折定位,多角度打光,减少检测死角,适配不同形态工件。
连续无级调光,根据工件材质反光特性调节亮度,高反光、哑光树脂产品均可适配。
多滤片可更换,透明滤片用于划痕异物;扩散滤片用于柔和均匀照明;选配绿色滤片强化细微缺陷识别效果。
LED 瞬时点亮,无需预热,随开随用,提升质检工位作业效率。
低发热输出,照射树脂、液晶类热敏工件,避免光照带来热损伤。
无风扇散热结构,不会产生气流扬尘,适合洁净车间内部使用。
台式底座摆放稳定,也可搭配支架做分离安装,产线工位、实验室桌面均可布置。
半导体零部件质检,晶圆、芯片载体表面颗粒、划痕目视检查。
显示器产线,面板、滤光片、触控基板针孔、污渍、划伤检测。
树脂塑胶制品,塑胶外壳、光学树脂件表面污点、流痕、异物检查。
光学零件检测,镜片、镀膜件外观缺陷目视筛查。
洁净车间质检工位,零部件成品外观检验。
来料检验部门,入库工件抽样目视检测。
高校材料实验室,试样表面缺陷观察辅助照明。
需要高亮度定向光源开展工件表面目视缺陷检查的生产与检测项目。
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