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2026-06-06
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本oji‑keisoku 带进样相位差测量装置
设备型号：KOBRA‑WFD0
测量方式：平行尼科耳旋转法
测量项目：相位差、慢轴取向角、相位差分布轮廓、波长色散特性、入射角依存特性
适用样品：长条透明、半透明高分子光学薄膜
轮廓测量样品规格：幅宽五十毫米，样品长度不受限制
入射角测试样品规格：适配固定尺寸片状试样，限制样品厚度
受光感光面积：五点八毫米见方感光区域
光源形式：多组 LED 单色光源，多波段可选
样品进给：内置自动进给机构，长样品连续扫描测试
操作软件：配套专用相位差分析处理软件
检测模式：垂直入射标准测量，支持拓展斜入射测量模块
供电规格：单相交流供电
使用环境：光学检测实验室，规避强振动、强光直射环境
标配配件：KOBRA‑WFD0 主机、信号通讯线缆、操作软件、操作说明书
选配配件：入射角测试模块、专用样品夹具、环境隔离组件、数据导出拓展组件
内置自动带进样进给机构，长条薄膜样品可连续走料扫描，获取长度方向相位差连续分布轮廓，适配卷材切片样品批量评价。
平行尼科耳旋转测量原理，宽测量量程，低相位差样品同样具备优异灵敏度，无需切换测量档位，减少人为引入测试偏差。
多波段 LED 光源配置，可完成多波长条件下测试，解析材料波长色散光学特性，贴近实际产品使用工况。
非接触无损检测，测试过程不接触薄膜表面，不会划伤保护膜、补偿膜类轻薄试样。
支持入射角依存性测试，模拟不同观察角度下薄膜光学表现，适配显示器件相关材料开发评价。
设备开口宽大，样品装取操作便捷，夹具部件可与同系列机型通用，配件复用性高。
软件自动采集处理测试数据，输出相位差分布曲线，便于批次对比与报告整理。
LED 光源设计，降低光源更换频次，减少后期耗材维护工作量，适合实验室长期连续使用。
光学薄膜研发实验室，补偿膜、偏光膜、高分子拉伸薄膜相位差与取向角评价。
显示材料行业，长条卷材切片样品相位差分布扫描，来料质检与制程管控。
新材料开发，高分子各向异性材料，波长色散、角度依存光学特性研究。
检测机构，光学膜材料第三方物性检测，出具测试数据。
高校科研，高分子光学相关课题实验与教学评价。
需要对长条薄膜样品开展相位差、双折射连续扫描检测的测试工位。
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