描述：日本photonic‑lattice 镜头双折射检测仪
本设备为 Pancake VR 镜头专用二维光学评价系统，面向 VR/AR 光学组件研发与生产质检，可完成镜头单体、镜头复合 QWP 波片组件的二维相位差分布测试，同时获取圆偏振度、椭圆率数据，覆盖 RGB 三原色波段。可测量含偏振片的复合光学样品，弥补传统双折射设备的局限，识别浇口应力、薄膜褶皱、气泡、贴附偏移等缺陷。

产品型号：VRG‑100
厂商性质：代理商
更新时间：2026-08-20
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本photonic‑lattice 镜头双折射检测仪

核心参数

设备型号：VRG‑100
测量对象：VR 镜头单体、镜头 + QWP 波片组件、带偏振片复合 Pancake 光学单元
测量项目：二维相位差分布、光轴方位角、圆偏振度、椭圆率；实时获取偏振片与 QWP 相对安装角度
工作波长：466nm（蓝）、543nm（绿）、650nm（红），支持波长定制
相位差测量范围：0～λ/2，适配 QWP 四分之一波片检测需求
测量视场：有效约 73×61mm；像素 616×514 点；GigE 相机数据采集
相位差重复性：σ＜0.1nm，保障微小应力相位差捕捉能力
配套软件：PA/WPA‑View，输出二维云图、统计报表，导出斯托克斯 S3 参数数据
主机结构：台式整机，配套专用控制计算机；系统 Windows11 环境
供电规格：AC100‑240V，50‑60Hz，整机功耗 210W
使用环境：环境温度 20‑35℃，湿度≤80% RH，无冷凝，洁净实验室工况
整机尺寸重量：约 300×350×600mm，本体约 15kg
标配配件：VRG‑100 测量主机、控制电脑、专用解析软件、操作说明书
选配配件：标准相位差校准板、定制样品工装、波长定制服务

日本photonic‑lattice 镜头双折射检测仪

核心功能特点

RGB 三色同步测量，分别采集蓝绿红波段相位差、圆偏振度与椭圆率，匹配显示器件光谱特性，识别不同波长下色偏、鬼影隐患，满足 Pancake 光学色彩还原评估需求。
支持含偏振片的复合组件测量，传统 WPA 系列无法检测带偏振片样品，VRG‑100 可直接测试镜头‑QWP‑偏振片整套光学单元，完整还原整机光学状态。
二维面分布测绘，输出相位差云图，直观定位浇口位置应力集中、波片褶皱、内部气泡、贴附错位等局部缺陷，区分镜片本体应力与薄膜工艺缺陷。
实时测算偏振片与 QWP 波片相对角度，快速核查装配工艺偏差，为组装工艺优化提供量化数据，减少人工拆解复测工作量。
同时输出圆偏振度、椭圆率指标，圆偏振状态劣化会直接造成光损耗、重影，该指标直接评判整套 Pancake 光学偏振控制能力，是 VR 成像质量关键判据。
适配两种测试场景，既可测裸镜头，评估注塑成型引入的应力双折射；也可测镜头贴合 QWP 成品，核查曲面贴附带来的相位差偏移，覆盖从零部件到组件全链条评价。
专业解析软件，自动输出最大值、平均值、标准差等统计结果，二维图像可保存归档，便于研发迭代对比、产线批量质检数据追溯。
台式紧凑型结构，研发实验室做样品验证、产线离线抽检都可适用，无需复杂样品前处理，镜片放置即可完成检测。

适用场景

VR Pancake 镜头研发，评估注塑镜头应力双折射，优化模具与注塑工艺，改善浇口位置相位差超标问题。
QWP 波片贴合工艺开发，核查曲面贴附后相位差均匀性，识别褶皱、气泡等工艺缺陷。
光学组件装配验证，检测偏振片‑QWP 相对角度，评估整套光学单元圆偏振控制性能，定位鬼影、色偏成因。
VR 镜头工厂来料、半成品、成品离线质检，建立偏振相关质量管控标准。
AR/VR 光学实验室，新型光学方案对标测试，多批次样品对比实验。
需要对 VR 镜头及复合偏振光学组件开展相位差、圆偏振度、椭圆率二维量化评价的研发、质检工位。

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