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日本bunkoukeiki 成像光谱仪分光测量设备

描述：日本bunkoukeiki 成像光谱仪分光测量设备
本款为 bunkoukeiki 品牌成像光谱设备，采用像差校正特殊光学系统，有效抑制杂散光，改善光谱两端分辨率衰减问题。设备可搭载多片衍射光栅，由步进电机完成波长与光栅切换驱动，通过电脑软件实现全部操控。可实现多点同步光谱采集，也可对接显微镜完成微小区域光谱测试，空间分辨表现优异。

  • 产品型号：MK‑300
  • 厂商性质：代理商
  • 更新时间：2026-08-21
  • 访问量：6
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本bunkoukeiki 成像光谱仪分光测量设备

核心参数

  1. 焦距：300mm

  2. F 数：F=4.4

  3. 光学波长范围：200‑1000nm（1200 线 /mm 光栅）；机械波长区间 0‑1200nm

  4. 波长分辨率：半高宽 0.2nm（3 像素以内）

  5. 波长准确度：±0.2nm（3 像素以内）

  6. 波长重复性：±0.2nm（3 像素以内）

  7. 杂散光：≤5×10⁻³

  8. 光栅配置：最多可搭载 3 片衍射光栅，50×50mm 规格，步进电机电动切换

  9. 驱动方式：正弦机构线性波长移动，步进电机驱动，USB 电脑软件控制

  10. 成像倍率：约 1.25 倍

  11. 外形尺寸重量：W415×D400×H270mm，整机约 20kg（不含探测器）

  12. 工作环境：0‑40℃，湿度 80% RH 以内，无冷凝

日本bunkoukeiki 成像光谱仪分光测量设备

核心功能特点

  1. 像差校正光学系统，极大降低杂散光，光谱波段两端分辨率衰减得到改善，全波段光谱采集稳定可靠。

  2. 最多搭载三片衍射光栅，电动切换光栅，一套设备覆盖宽波段光谱测试需求，减少硬件更换操作。

  3. 正弦机构实现波长线性移动，步进电机驱动，波长定位精度与重复性能优异。

  4. 支持多点同步光谱测量，搭配光纤组件实现多点位同时采集光谱数据，提升实验效率。

  5. 可对接显微镜系统，完成微小被测区域的光谱成像测量，拓展显微光谱研究能力。

  6. USB 接口电脑软件控制，波长移动、光栅切换全部软件操作，便于集成自动化测试流程。

  7. 探测器可按需选配，支持双探测器切换型号，适配不同实验检测需求。

  8. 提示：探测器不属于标配；光栅需要根据测试波段选型；属于科研实验设备，仲裁检测建议搭配标准光源复核。

适用场景

  1. 光电科研，光电器件、发光材料光谱特性测试，发光光谱采集分析。

  2. 显微光谱，对接显微镜，微小样品区域成像光谱测量。

  3. 光学材料，薄膜、滤光片透射反射光谱评价。

  4. 理化实验，多点位同步光谱采集，各类分光实验研究。

  5. 需要开展宽波段成像分光采集的研发、科研工位。

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